[发明专利]具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管及制造方法有效
申请号: | 201610325166.X | 申请日: | 2016-05-17 |
公开(公告)号: | CN105762183B | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 房玉龙;冯志红;郭艳敏;尹甲运;宋旭波;王波;周幸叶;张志荣;王元刚;李佳;敦少博;芦伟立;高楠 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L29/772 | 分类号: | H01L29/772;H01L29/40;H01L29/06;H01L21/335;H01L21/28 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 苏英杰 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 algan gan 极化 掺杂 场效应 晶体管 制造 方法 | ||
1.一种具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管,其特征在于,从下至上依次为衬底(1)、成核层(2)、GaN缓冲层(3)、未掺杂的GaN沟道层(4)、组分单调变化的AlxGa1-xN层(5)、组分固定的AlyGa1-yN层(6),其中,y≥x,在组分固定的AlyGa1-yN层(6)上沉积欧姆接触金属并进行高温合金形成源金属电极(7)和漏金属电极(9),在组分固定的AlyGa1-yN层(6)上沉积肖特基接触金属并进行高温合金形成栅金属电极(8),源金属电极(7)与栅金属电极(8)之间以及栅金属电极(8)与漏金属电极(9)之间沉积钝化层(10),在钝化层(10)上沉积金属场板(11);
衬底(1)为SiC、Si、Sapphire、AlN、GaN中的任一种;
成核层(2)为GaN、AlN、AlGaN、InN、InAlN、InGaN中的任一种;
组分单调变化的AlxGa1-xN层(5),由AlaGa1-aN层增大到AlbGa1-bN层,其中0≤a≤15%,5%≤b≤50%,并a≤b,厚度为0-200nm。
2.根据权利要求1所述的具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管,其特征在于,组分固定的AlyGa1-yN层(6),y≥b,5%≤y≤100%,厚度为1-50nm。
3.一种具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管的制造方法,其特征在于,包括以下步骤,
一、在衬底(1)上生长成核层(2);
二、在成核层(2)上生长GaN缓冲层(3);
三、在GaN缓冲层(3)上生长未掺杂的GaN沟道层(4);
四、在GaN沟道层(4)上生长组分单调变化的AlxGa1-xN层(5),由AlaGa1-aN层单调增大到AlbGa1-bN层,其中0≤a≤15%,5%≤b≤50%,并a≤b,厚度为0-200nm;
五、在组分渐变的AlxGa1-xN层(5)上生长组分固定的AlyGa1-yN层(6),其中,y≥x,y≥b,5%≤y≤100%,厚度为1-50nm;
六、在组分固定的AlyGa1-yN层(6)上沉积沉积欧姆接触金属并进行高温合金形成源金属电极(7)和漏金属电极(9),在组分固定的AlyGa1-yN层(6)上沉积肖特基接触金属并进行高温合金形成栅金属电极(8),在金属电极之间沉积钝化层(10),沉积金属场板(11),制备出具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管。
4.根据权利要求3所述的具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管的制造方法,其特征在于,各层生长采用氮化物外延生长法;氮化物外延生长法选用金属有机物化学气相沉积外延沉积、分子束外延沉积、脉冲激光沉积、磁控溅射沉积、电子束蒸发沉积、化学气相沉积中的氮化物外延方法中的任一种。
5.根据权利要求3所述的具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管的制造方法,其特征在于,组分单调变化的AlxGa1-xN层(5),Al组分由下至上在0%到30%间单调增大。
6.根据权利要求3所述的具有场板的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管的制造方法,其特征在于,钝化层(10)为SiNx。
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