[发明专利]一种新型小量程超高精度位移传感器及测量方法在审
申请号: | 201610334715.X | 申请日: | 2016-05-19 |
公开(公告)号: | CN105783737A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 张白;潘俊涛 | 申请(专利权)人: | 北方民族大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 王芸 |
地址: | 750021 宁夏回族*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 量程 超高 精度 位移 传感器 测量方法 | ||
1.一种新型小量程超高精度位移传感器,其特征在于,包括激 光束(11)、两块反射镜、光电探测器(4)和处理系统,两块所述反射镜 平行设置并且能够相对移动,所述激光束(11)与光电探测器(4)相对设 置在两块所述反射镜两端,所述激光束(11)入射到其中一块所述反射 镜上,经过两块所述反射镜交替反射后,出射到所述光电探测器(4) 上被感应,所述处理系统用于处理所述光电探测器(4)接收到所述激 光束(11)的位置。
2.根据权利要求1所述的一种新型小量程超高精度位移传感器, 其特征在于,两块反射镜分别是固定反射镜(2)和移动反射镜(3),所 述移动反射镜(3)通过一刚性件连接被测物体(6),移动所述被测物体 (6),带动所述移动反射镜(3),改变了所述激光束(11)的反射路径,所 述处理系统根据两条出射所述激光束(11)分别在所述光电探测器(4) 上两个感应位置的间距,得出所述被测物体(6)的位移。
3.根据权利要求2所述的一种新型小量程超高精度位移传感器, 其特征在于,还包括用于发射所述激光束(11)的激光源(1)。
4.根据权利要求3所述的一种新型小量程超高精度位移传感器, 其特征在于,还包括壳体,所述激光源(1)、固定反射镜(2)、移动反 射镜(3)和光电探测器(4)均位于所述壳体内,形成读数头(5)。
5.根据权利要求4所述的一种新型小量程超高精度位移传感器, 其特征在于,所述移动反射镜(3)连接至少一个连接件(31),所述连接 件(31)为刚性件,所述连接件(31)伸出所述读数头(5)外部。
6.根据权利要求5所述的一种新型小量程超高精度位移传感器, 其特征在于,所述移动反射镜(3)连接三个所述连接件(31)。
7.根据权利要求3所述的一种新型小量程超高精度位移传感器, 其特征在于,所述激光源(1)、固定反射镜(2)、移动反射镜(3)和光电 探测器(4)的位置均可调。
8.一种新型小量程超高精度位移传感器的测量方法,包括如权 利要求2-7任一所述的新型位移传感器,其特征在于,其测量方法包 括以下步骤:
a、将被测物体(6)通过一刚性件连接于所述移动反射镜(3);
b、发射一束激光束(11),所述激光束(11)以一定角度入射在所述 固定反射镜(2)上,假设所述入射角为θ,所述激光束(11)经过所述固 定反射镜(2)和移动反射镜(3)的连续反射后照射到所述光电探测器(4) 上位置一(111);
c、移动所述被测物体(6),带动所述移动反射镜(3),位移量值为 X,同时所述激光束(11)的反射路径变化,所述被测物体(6)停止移动 时,所述激光束(11)入射到所述光电探测器(4)上位置二(112);
d、所述处理系统根据所述位置一(111)和位置二(112)的间距值Y, 处理得到所述被测物体(6)的所述位移量值X的值。
9.根据权利要求8所述的一种新型小量程超高精度位移传感器 的测量方法,其特征在于,在所述步骤b或者步骤c中,所述光电探 测器(4)的位置与长度可以通过所述激光束(11)的入射角θ计算获得, 使得所述激光束(11)在所述固定反射镜(2)边缘点的反射光入射在所 述光电探测器(4)测量范围内,得到所述位置一(111)或者所述位置二 (112),直射光入射在所述光电探测器(4)测量范围外。
10.根据权利要求8所述的一种新型小量程超高精度位移传感器 的测量方法,其特征在于,当所述步骤c中的所述移动反射镜(3)位移 量值X保持固定值时,如果需要所述位置一(111)和位置二(112)的间 距值Y越大,将所述步骤b中的所述激光束(11)的入射角度θ调小或 者增加所述固定反射镜(2)与移动反射镜(3)的长度。
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