[发明专利]基于PCB和电场边缘效应的水含量测量探头及制作方法在审
申请号: | 201610338376.2 | 申请日: | 2016-05-20 |
公开(公告)号: | CN105758902A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | 刘恒;阮玮琪;熊丰;徐佳棋 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学 |
主分类号: | G01N27/22 | 分类号: | G01N27/22 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 朱妃;董建林 |
地址: | 210019 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 pcb 电场 边缘 效应 含量 测量 探头 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种水含量测量探头,特别是涉及一种基于PCB和电场边缘效应的水含量测量探头及制作方法,属于传感器设计制造技术领域。
背景技术
随着集成电路制备技术和微机械技术的发展,各种微型传感器已经广泛应用于宇航、汽车工业等众多的科研及民用领域。但是采用集成电路技术和微机械技术制作传感器周期长且费用高。尤其是在电容式传感器制作中,传感器的高精度通常由电容的电容值决定,容值越大的电容式传感器,其精度越高。而使用集成电路技术和微机械技术制作的传感器体积很小,使得内置电容等效平板面积小,这就严重限制了电容的大小。
电容式传感器从原理上可以分为两种,一种为利用正对电场效应制作的传感器,另一种就是利用电场边缘效应制作的传感器。在平行极板电容中,两极板的边缘电场分布于平行极板的两边且电场线是弯曲的,而正对电场分布于平行极板中间且电场线是平行的。
在集成电路薄膜工艺和微机械工艺制作的传感器探头中,大部分是利用正对电场效应制作的,器件的大小会直接约束电容值。在微电子领域,从工艺上,电容可以分为集成电路薄膜工艺制造和微机械工艺制造两种。利用集成电路薄膜工艺制作的电容量级通常在pF级别,一般不用于传感器探头结构的制作,而用于后期的处理电路;微机械工艺制作的电容通常采用三维梳齿状形式,如现有专利文献(CN102064021A)介绍的一种微机械梳齿电容器,其采用三维立体梳齿,由固定梳齿电极和可动梳齿电极组成,可动梳齿电极在固定梳齿电极中来回移动从而改变电容量,其采用的是电容极板的正对电场效应。
综上,采用集成电路薄膜工艺和微机械工艺制备的传感器探头电容值小、精度低且测量范围小,不能满足水含量测量要求的范围广和精度高的要求,再加之集成电路薄膜工艺和微机械工艺制备成本高、周期长,不利于前期传感器的研发。
发明内容
本发明的主要目的在于,克服现有技术中的不足,提供一种基于PCB和电场边缘效应的水含量测量探头及制作方法,不仅低成本、研发周期短、测量范围广、精度高,且具有产业上的利用价值。
为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案是:
一种基于PCB和电场边缘效应的水含量测量探头,包括依次从上到下设置的高精度检测电容、高介电常数环氧树脂层和恒温控制结构。
其中,所述高精度检测电容包括正负极对状梳齿和绝缘油漆,所述正负极对状梳齿附着在高介电常数环氧树脂层上,并浸没在绝缘油漆中、通过绝缘油漆固定在高介电常数环氧树脂层上;所述正负极对状梳齿包括正电极、负电极、若干个成对的正极梳齿和负极梳齿,所述正极梳齿并联于正电极,所述负极梳齿并联于负电极,所述正极梳齿和负极梳齿相互交叉平面设置;所述正电极、负电极、正极梳齿和负极梳齿均采用PCB工艺中的印制覆铜。
本发明进一步设置为:所述高介电常数环氧树脂层采用FR-4材料制成。
本发明进一步设置为:所述恒温控制结构包括绝缘加热片和测温传感器,所述绝缘加热片包括第一绝缘加热片、第二绝缘加热片和第三绝缘加热片,所述测温传感器包括第一测温传感器和第二测温传感器;所述第一测温传感器位于第一绝缘加热片和第二绝缘加热片之间,所述第二测温传感器位于第二绝缘加热片和第三绝缘加热片之间,所述第一绝缘加热片、第二绝缘加热片和第三绝缘加热片通过加热片导线引出控制。
本发明进一步设置为:所述正极梳齿和负极梳齿均为15个梳齿,每个梳齿的尺寸是长为10mm、宽为0.3mm,相邻梳齿的间隔均为0.6mm。
本发明进一步设置为:所述正极梳齿和负极梳齿均等距交叉设置,正极梳齿和负极梳齿的交叉深度为9.7mm,正极梳齿远离正电极的一端距离负电极边缘为0.15mm,负极梳齿远离负电极的一端距离正电极边缘为0.15mm。
本发明进一步设置为:所述高介电常数环氧树脂层厚度为1.6mm±0.05mm。
本发明还提供一种基于PCB和电场边缘效应的水含量测量探头的制作方法,包括以下步骤:
1)将n个成对的正极梳齿和负极梳齿相互交叉平面设置组成n-1对耦合正负梳齿电容,并将n个正极梳齿的末端并联于正电极、n个负极梳齿的末端并联于负电极,从而形成并联关系的正负极对状梳齿;
通过每一对耦合正负梳齿电容cc均由正对电场效应电容cα和边缘电场效应电容cβ组成,计算获得总的检测电容为Cc、总正对电场效应电容为Cα和总边缘电场效应电容为Cβ,分别为如下公式,
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