[发明专利]一种估计目标散射中心位置参数的方法有效
申请号: | 201610343935.9 | 申请日: | 2016-05-23 |
公开(公告)号: | CN106054184B | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | 邢笑宇;霍超颖;袁莉;任红梅 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90;G01S7/41 |
代理公司: | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)11466 | 代理人: | 黄启行,张璐 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 估计 目标 散射 中心 位置 参数 方法 | ||
1.一种估计目标散射中心位置参数的方法,其特征在于,所述方法包括:
S1、将带宽为Bz的散射回波数据划分成M个频域区间,并对所述M个频域区间的数据分别成像,以获取M个子图像;
S2、对所述M个子图像分别进行局部峰值点判断,并将在所述M个子图像中均出现的局部峰值点的位置参数作为目标散射中心位置参数的第一估计点;
其中,M为大于1的整数。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述方法还包括:
S3、对第一估计点及其邻域像素点进行高斯函数拟合,确定目标散射中心位置参数的第二估计点。
3.如权利要求2所述的方法,其中,步骤S3包括:
S31、以第一估计点处的像素点为中心、以及其邻域内的8个相邻像素点构建矩阵A3×3;
S32、对所述矩阵A3×3中每行或每列的三个像素点进行高斯函数拟合,以确定第一至第三拟合曲线,并获取第一至第三拟合曲线上的极大值点D1、D2、D3;
S33、对D1、D2、D3进行高斯函数拟合,以确定第四拟合曲线,并获取第四拟合曲线上的极大值点D0,并将D0的位置参数作为第二估计点。
4.如权利要求1所述的方法,其中,步骤S2具体为:
对第一个子图像上的像素点进行局部峰值点判断,并将确定的局部峰值点的位置参数记录在第一集合中;
在第i个子图像中,对第i-1个集合中的位置参数处的像素点进行局部峰值点判断,并将确定的局部峰值点的位置参数记录在第i个集合中;其中,i=2,3,4…M;
将第M个集合中的位置参数作为目标散射中心位置参数的第一估计点。
5.如权利要求1所述的方法,其中,步骤S2具体为:
对M个子图像上的像素点分别进行局部峰值点判断,并将确定的局部峰值点的位置参数分别记录在M个集合中;
将在所述M个集合中都出现的位置参数作为目标散射中心位置参数的第一估计点。
6.如权利要求4或5所述的方法,其中,对像素点进行局部峰值点判断具体为:
将所述像素点的像素值与其邻域内的8个相邻像素点的像素值进行比较,若所述像素点的像素值大于其邻域像素点的像素值,则所述像素点为局部峰值点。
7.如权利要求1所述的方法,其中,所述M个频域区间的子带宽均为B,且所述M个频域区间的中心频率满足:
fi=f1+(i-1)*Δf;
式中,fi为第i个频域区间的中心频率,f1为第一个频域区间的中心频率,Δf为频域区间的中心频率的步进值;i=2,3,…M。
8.如权利要求7所述的方法,其中,M满足:
9.如权利要求8所述的方法,其中,
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京环境特性研究所,未经北京环境特性研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610343935.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:激光测距装置
- 下一篇:一种钻码机的防撞系统及其防撞方法