[发明专利]一种X射线应力测试中平均腐蚀深度的测量装置

权利要求书

1.一种X射线应力测试中平均腐蚀深度的测量装置，其特征在于，包括支座、支杆和千分表，所述支座为开口朝下的“U”型空心折弯件，所述支杆为空心直杆，支杆上下两端分别与支座顶部中心和所述千分表底部中心相连，支座顶部空腔内水平设有平衡板，所述平衡板中心通过销轴与支座相连，平衡板上设有旋转弹簧，支座底面均匀间隔设有三个套管，平衡板顶面中心与主弹簧底端相连，主弹簧的顶端与千分表相连，平衡板底面均匀间隔与三根副弹簧的顶端相连，所述三根副弹簧的底端均设有球体，副弹簧外套设有护套，所述护套底端与所述球体固连，三根副弹簧与所述三个套管相对应设置，护套插入套管并可沿套管滑动。

2.根据权利要求1所述的一种X射线应力测试中平均腐蚀深度的测量装置，其特征在于，所述支杆上套设有环形把手，所述千分表顶部中心设有圆柱把手。

3.根据权利要求1或2所述的一种X射线应力测试中平均腐蚀深度的测量装置，其特征在于，所述护套外径与所述套管内径相同，护套长度小于或等于套管长度。

4.根据权利要求1所述的一种X射线应力测试中平均腐蚀深度的测量装置，其特征在于，所述千分表包括主表盘和副表盘，所述主表盘上的主指针指示平均深度值，所述副表盘上的副指针指示主指针旋转圈数。