[发明专利]基站的基带测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明实施例涉及通信技术，尤其涉及一种基站的基带测试系统及方法。

背景技术

目前的LTE通信系统中基带DSP(一种基带装置)有测试两种方法。第一种方法，天线数据和调度信息都在基带DSP中打桩，这种方法的优点是测试系统架构简单，运行稳定，可重复性好，缺点是每个用例的生成和运行都要研发人员参与，不能批量运行，只适用于研发人员的自测。第二种方法，基带DSP集成到整个LTE系统中测试，这种方法的优点是测试全面，包括DSP本身程序和接口，缺点是测试系统复杂，结果可重复性差，基带DSP容易受到其它模块的影响，测试用例设计困难。

针对上述各种缺点，基带装置的测试需要有所改进。

发明内容

本发明提供一种基站的基带测试系统及方法，以解决测试代码对基带装置中正常代码的干扰问题。

第一方面，本发明实施例提供了基站的基带测试系统，其中，所述基站包括：包含待测上行信道和待测下行信道的待测基带装置，所述测试系统包括：测试基带装置，包括：与所述待测下行信道通信的测试上行信道，以及与所述待测上行信道通信的测试下行信道；所述测试基带装置用于通过与所述待测上行信道和待测下行信道的数据交互，对所述待测基带装置进行测试。

第二方面，本发明实施例还提供了基站的基带测试方法，其中，所述基站包括：包含待测上行信道和待测下行信道的待测基带装置，所述测试方法包括：将待测基带装置的待测下行信道和测试基带装置的测试上行信道连通，将所述待测基带装置的待测上行信道和测试基带装置的测试下行信道连通；通过与所述待测上行信道和待测下行信道的数据交互，对所述待测基带装置进行测试。

本发明通过将待测基带装置的上下行信道与测试基带装置的上下行信道连通来测试待测基带装置各类业务的处理和转发，实现了无需修改待测基带装 置中的代码，减少测试对待测基带装置工作模式的干扰。

附图说明

图1是本发明实施例一中的一种基站的基带测试系统的结构示意图；

图2是本发明实施例一中的另一种基站的基带测试系统的结构示意图；

图3是本发明实施例二中的基站的基带测试方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的基站的基带测试系统的结构示意图，本实施例可适用于在不修改基站的代码的情况对基站进行测试。所述测试系统通过对基站中的待测基带装置进行数据和信令的交互来测试各专用/共享的信道传输。

其中，所述基站针对所覆盖的每个小区设置对应的基带装置。所述基带装置用于基于调度信息进行数据转发，和用于数据分析并生成相应报告。例如，所述基带装置将UE上行的数据转发至其他基带装置。又如，所述基带装置根据所接收的UE的信道报告，调整信道矩阵，并将调整后的信道矩阵ID反馈给UE等。其中，基站中可包含多个基带装置，每个基带装置对应基站覆盖的一个小区。所述基带装置举例为DSP。

当所述测试系统需要测试基站中的某个基带装置时，测试系统中的测试基带装置与待测基带装置的上下行信道回环连接。

具体地，所述测试基带装置21包括：与所述待测下行信道通信的测试上行信道，以及与所述待测上行信道通信的测试下行信道；所述测试基带装置21用于通过与所述待测上行信道和待测下行信道的数据交互，对所述待测基带装置1进行测试。

其中，所述待测下行信道和待测上行信道为待测基带装置1侧的信道。所述测试上行信道和测试下行信道为测试基带装置21侧的信道。根据LTE标准， 在测试如组呼业务、或随机接入功能等测试类型时，所述待测下行信道和测试上行信道、和待测上行信道与测试下行信道，分别采用待测基带装置1和测试基带装置21之间的共享信道。

另外，为了便捷的测试基站中的各待测基带装置1，所述测试基带装置21安装在基站中，并通过调制解调装置与所述待测基带装置1通信。

具体地，所述测试基带装置21和待测基带装置1之间的数据交互均按照基站工作状态下基带装置与终端的数据交互方式进行数据交互。由于测试基带装置21安装在基站中，待测基带装置1与测试基带装置21无需利用基站的天线阵列进行数据收发，而可以直接通过调制解调装置实现上下行数据传输。