[发明专利]光学元件衰减测试装置有效
| 申请号： | 201610361222.5 | 申请日： | 2016-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN105841933B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 刘显荣;李巍 | 申请（专利权）人： | 海信集团有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 | 代理人： | 邵新华 |
| 地址： | 266100 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 元件 衰减 测试 装置 | ||
【说明书】：
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