[发明专利]基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪XY平台控制系统在审
申请号: | 201610361304.X | 申请日: | 2016-05-27 |
公开(公告)号: | CN105843133A | 公开(公告)日: | 2016-08-10 |
发明(设计)人: | 王晓锦;蔡克亚;郭光辉;李向广;李康康;王家杰;张瑞峰;刘聪;王超;刘晓莉;易玲;刘伟伟;李传华;吴学炜 | 申请(专利权)人: | 安图实验仪器(郑州)有限公司 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042;G01N27/66 |
代理公司: | 郑州异开专利事务所(普通合伙) 41114 | 代理人: | 韩华 |
地址: | 450016 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基质 辅助 激光 解析 电离 飞行 时间 质谱仪 xy 平台 控制系统 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安图实验仪器(郑州)有限公司,未经安图实验仪器(郑州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610361304.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。