[发明专利]面板缺陷检测方法和使用该方法的有机发光显示装置有效
申请号: | 201610365917.0 | 申请日: | 2016-05-27 |
公开(公告)号: | CN106205439B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 谷领介;南宇镇;高杉亲知;曹景铉 | 申请(专利权)人: | 乐金显示有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;H01L27/32 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 朱胜;穆云丽<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 面板 缺陷 检测 方法 使用 有机 发光 显示装置 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于乐金显示有限公司,未经乐金显示有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610365917.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。