[发明专利]一种基于斜入射超声合成孔径聚焦的厚壁结构缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201610375312.X | 申请日： | 2016-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN106093205B | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 林莉;张侃;金士杰;郭彦辉;雷明凯 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06 |
| 代理公司： | 大连星海专利事务所有限公司 21208 | 代理人： | 花向阳;杨翠翠 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 入射 超声 合成 孔径 聚焦 结构 缺陷 检测 方法 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学，未经大连理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610375312.X/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种通信标识存储方法及装置
- 下一篇：一种方便免疫抓鸡的隔离网
