[发明专利]薄储层厚度预测方法及装置

权利要求书

1.一种薄储层厚度预测方法，其特征在于，包括：

步骤101，获取工区范围内多个第一薄储层的地层反射系数序列与多个地震子波，其中，第一薄储层为已知的薄储层；

步骤102，将地层反射系数序列与地震子波进行褶积，获取地质基函数，进一步地，将多个地质基函数集合，构成地质基函数空间；

步骤103，将多个第二薄储层的地震资料基于地质基函数空间展开，以获取多个展开系数，其中，第二薄储层为工区范围内除第一薄储层外的已知薄储层，所述展开系数为地震资料基于地质基函数空间展开的展开式的系数；

步骤104，根据展开系数对第二薄储层的厚度进行预测，以获取最大概率厚度，其中，最大概率厚度为每个展开式中展开系数最大的地质基函数所对应的厚度；

步骤105，判断最大概率厚度与对应的第二薄储层的实际厚度之差是否在预设阈值内，若是，对所述第二薄储层的厚度预测有效；

步骤106，判断预测有效的概率是否满足预设精度，若满足，转步骤107执行，其中，预测有效的概率为第二薄储层的厚度预测有效个数占总的第二薄储层个数的比值；

步骤107，利用地质基函数空间对第三薄储层的厚度进行预测，其中，第三薄储层为工区范围内需要预测的薄储层。

2.根据权利要求1所述的薄储层厚度预测方法，其特征在于，步骤107具体包括：

获取第三薄储层的地震资料；

将第三薄储层的地震资料基于地质基函数空间展开；

根据展开系数对第三薄储层的厚度进行预测，以获取最大概率厚度，所述最大概率厚度即为第三薄储层的厚度。

3.根据权利要求1所述的薄储层厚度预测方法，其特征在于，在步骤101之前还包括：

步骤a，获取多个第一薄储层的测井信息，并对多个第一薄储层的反射特征进行统计，其中，所述反射特征包括第一薄储层的厚度和界面反射系数值；

步骤b，根据多个反射特征构建多个地层反射系数序列；

步骤c，根据叠后地震资料，提取多个第一薄储层的地震子波。

4.根据权利要求3所述的薄储层厚度预测方法，其特征在于，在步骤b之后，步骤c之前，还包括：

获取地震数据，并对地震数据进行品质分析；

对地震数据进行内插及预处理，以获得地震资料。

5.根据权利要求1所述的薄储层厚度预测方法，其特征在于，步骤106还包括，

若预测有效的概率不满足预设精度，转步骤101执行。

6.一种薄储层厚度预测装置，其特征在于，包括：

参数获取模块，用于获取工区范围内多个第一薄储层的地层反射系数序列与多个地震子波，其中，第一薄储层为已知的薄储层；

地质基函数空间获取模块，用于将地层反射系数序列与地震子波进行褶积，获取地质基函数，进一步地，将多个地质基函数集合，构成地质基函数空间；

展开系数获取模块，用于将多个第二薄储层的地震资料基于地质基函数空间展开，以获取多个展开系数，其中，第二薄储层为工区范围内除第一薄储层外的已知薄储层，所述展开系数为地震资料基于地质基函数空间展开的展开式的系数；

最大概率厚度获取模块，用于根据展开系数对第二薄储层的厚度进行预测，以获取最大概率厚度，其中，最大概率厚度为每个展开式中展开系数最大的地质基函数所对应的厚度；

预测结果判定模块，用于判断最大概率厚度与对应的第二薄储层的实际厚度之差是否在预设阈值内，若是，判定对所述第二薄储层的厚度预测有效；

精度判定模块，用于判断预测有效的概率是否满足预设精度，若满足，触发薄储层预测模块，其中，预测有效的概率为第二薄储层的厚度预测有效个数占总的第二薄储层个数的比值；

薄储层预测模块，用于利用地质基函数空间对第三薄储层的厚度进行预测，其中，预测有效的概率为第二薄储层的厚度预测有效个数占总的第二薄储层个数的比值，第三薄储层为工区范围内需要预测的薄储层。