[发明专利]晶粒尺寸影响超声波评价材料应力的修正方法有效
申请号: | 201610391985.4 | 申请日: | 2016-06-03 |
公开(公告)号: | CN105891340B | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 刘彬;缪文炳;吴绪磊;李瑞峰 | 申请(专利权)人: | 江苏科技大学 |
主分类号: | G01N29/44 | 分类号: | G01N29/44 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 212003 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 晶粒 尺寸 影响 超声波 评价 材料 应力 修正 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏科技大学,未经江苏科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610391985.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种色谱仪一键启动装置
- 下一篇:一种高导电型叉指电极、其制备方法和应用