[发明专利]麦克风元件测试座及其测试装置

说明书

一种麦克风元件测试座及其测试装置，麦克风元件测试座包括有：一测试基座、一声源、一参考麦克风、一压座及多个探针销。测试基座包括有至少一第一测试部、一第一安装部、一第二安装部及一测试通道，测试通道连通至少一第一测试部、一第一安装部及一第二安装部，声源设置于第一安装部，参考麦克风设置于第二安装部，压座压合测试基座，具有至少一第二测试部，至少一第一测试部及至少一第二测试部形成至少一待测元件放置空间，多个探针销连通至少一待测元件放置空间。借此，可减少声波的总谐波失真，改善麦克风元件的声音测试质量。

技术领域

本发明涉及一种麦克风元件(Microphone Device)测试座及其测试装置，尤其涉及一种利用测试通道改善音频的麦克风元件测试座及其测试装置。

背景技术

日常生活中充斥着各种电子产品，每一种电子产品都利用半导体元件来达到特定的功能，例如以发光二极管来照明，以温度传感器及压力传感器来测量外界环境变化等，而在半导体元件搭载于产品前，需要经过信赖性测试及功能性测试等来确保半导体元件的功能可以正常发挥。

参阅图1，其为现有技术麦克风元件测试装置示意图，现有技术麦克风元件测试装置包括有：一测试腔体40、一声源41、一参考麦克风42、一麦克风元件43，声源41及参考麦克风42设置于测试腔体40处并与测试腔体40连通，麦克风元件43具有一声孔431并与多个探针销(图中未示出)电连接。

其测试方法是将麦克风元件43置入于测试腔体40内后，通过声源41输出一测试信号，由测试腔体40将测试信号传达至麦克风元件43的声孔431及参考麦克风42，经由分析装置比对麦克风元件43所接收的信号及参考麦克风42所接收信号的差异，因而得知麦克风元件43是否正常运作及信号质量

在测试声音信号时，一般以总谐波失真(THD：Total Harmonic Distortion)来认定失真程度，总谐波失真是指用信号源输入时，输出信号比输入信号多出的额外谐波成分，通常用百分比来表示，一般说来，1000Hz频率处的总谐波失真最小，因此许多测试均以1000Hz频率的失真作为指针，而总谐波失真的值越小越好。

以上所述，由于现有技术麦克风元件测试装置需要将麦克风元件43置入于测试腔体40内，使得测试腔体40需要配合麦克风元件43的尺寸改变大小，而测试腔体40的尺寸又会影响失真程度，因此，为了减少测试时的失真程度，本发明人构思出一种麦克风元件测试座及其测试装置，利用测试基座及测试通道的结构设计，达到降低总谐波失真及测试装置模块化的目的。

发明内容

本发明的主要目的在于解决上述问题，提供一种麦克风元件测试座及其测试载板，达到降低总谐波失真及测试装置模块化的目的。

为达成上述目的，本发明的麦克风元件测试座，包括有：一测试基座、一声源、一参考麦克风、一压座及多个探针销。测试基座包括有至少一第一测试部、一第一安装部、一第二安装部及一测试通道，测试通道连通至少一第一测试部、第一安装部及第二安装部，声源设置于第一安装部，参考麦克风设置于第二安装部，压座压合测试基座，具有至少一第二测试部，至少一第一测试部及至少一第二测试部形成至少一待测元件放置空间，多个探针销连通至少一待测元件放置空间。

本发明的麦克风元件测试座还可包括至少一与至少一第一测试部及至少一第二测试部相互抵接的气密构件。

本发明的麦克风元件测试座还可包括至少一连通至少一待测元件放置空间的真空吸附通道。

本发明的麦克风元件测试座还可包括一具有一通孔的测试载板，测试基座可设置于测试载板上，第一安装部及声源的至少其一可穿设通孔。

本发明的麦克风元件测试座还可包括一设置压座的压座载板。

上述测试通道包括有至少一第一声音通道、至少一第二声音通道及至少一第三声音通道，至少一第一声音通道可与至少一第一测试部连通，至少一第二声音通道可与第一安装部连通，至少一第三声音通道可与第二安装部连通。