[发明专利]用于鼠标电路的功能测试系统及方法有效
申请号: | 201610453746.7 | 申请日: | 2016-06-22 |
公开(公告)号: | CN107526017B | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 黄燕;辛辉;钱文萍;曹旺;马刚 | 申请(专利权)人: | 无锡华润矽科微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 214135 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 鼠标 电路 功能 测试 系统 方法 | ||
1.一种用于鼠标电路的功能测试系统,其特征在于,所述的系统包括主控电路,所述的主控电路包括功能测试模块,所述的功能测试模块用以对鼠标电路在测试模式下进行功能测试,并输出各项功能测试的测试结果;
在所述的测试模式为外打指令测试模式的情况下,所述的主控电路向SK1端发送时钟,在每个时钟SK1的下降沿向鼠标电路的SK0端发送测试指令;
在所述的测试模式为外部按键测试模式的情况下,所述的主控电路向SK1端发送时钟,并模拟外部按键向鼠标电路的SK2、DM、DP端发送按键信号;
在所述的测试模式为USB功能测试模式的情况下,所述的主控电路通过自身的DM、DP端向鼠标电路中的USB模块发送数据;
在所述的测试模式为RAM测试模式的情况下,所述的主控电路对鼠标电路的RAM进行写入操作;
在所述的测试模式为ROM测试模式的情况下,所述的主控电路向SK1端输出时钟,在时钟SK1每个下降沿时,鼠标电路输出的ROM存储器的数据;
在所述的测试模式为DSP测试模式的情况下,所述的主控电路使能鼠标电路的DSP的寄存器的写功能;
在所述的测试模式为PD测试模式的情况下,所述的主控电路向SK2端发送高频时钟电路作为鼠标电路中PD模块的工作时钟。
2.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统,其特征在于,所述的系统还包括测试机台和指示装置,所述的指示装置用以显示测试结果;所述的测试机台用以根据指示装置的显示,对测试成功的鼠标电路和测试失败的鼠标电路进行区分,并且对测试失败的鼠标电路根据测试失败的功能项进行区分。
3.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统,其特征在于,所述的主控电路还包括开短路测试模块,所述的开短路测试模块用以对鼠标电路进行开短路测试。
4.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统,其特征在于,所述的功能测试包括外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试中的至少一种;或者
所述的功能测试为依次进行外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试。
5.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统,其特征在于,所述的功能测试包括PD测试时,所述的系统还包括测试灯,所述的测试灯用以在PD测试中根据设定条件打开和关闭以使鼠标电路工作在有光照和无光照条件下。
6.一种基于权利要求1至5中任一项所述的系统用于鼠标电路的功能测试方法,其特征在于,所述的方法包括如下步骤:
(1)选取一待测试的鼠标电路;
(2)主控电路从测试任务列表中选择一未处理的测试任务;
(3)主控电路对该鼠标电路进行相应的功能测试,并采集鼠标电路输出的采样信号;
(4)主控电路判断采样信号是否符合系统预设要求,如果是,则继续步骤(5),否则继续步骤(6);
(5)主控电路判断测试任务列表中是否还存在未处理的测试任务,如果是,则继续步骤(2),否则继续步骤(7);
(6)主控电路判定该鼠标电路测试失败;
(7)主控电路判定该鼠标电路测试成功。
7.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法,其特征在于,所述的系统还包括测试机台和指示装置,所述的步骤(6),包括以下步骤:
(6-1)主控电路控制指示装置显示测试失败,以及测试失败的功能项;
(6-2)测试机台根据指示装置显示的测试失败的功能项,将该鼠标电路归入该测试失败的功能项的对应类别,然后结束退出;
所述的步骤(7),包括以下步骤:
(7-1)主控电路控制指示装置显示测试成功;
(7-2)测试机台根据指示装置的显示,将该鼠标电路归入测试成功的类别,然后结束退出。
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