[发明专利]一种测量近地表地层品质因子的方法及装置

权利要求书

1.一种测量近地表地层品质因子的方法，其特征在于，所述方法包括：

分别确定第一检波器和第二检波器检测的地震波的频谱，所述第一检波器和所述第二检波器分别设置于接收井的井底和井口，所述地震波由设置于激发井的井底的激发点激发，所述激发井的深度大于低速层厚度，所述接收井的深度小于所述低速层厚度，且所述接收井与所述激发井之间相距第一预设距离；

确定多个第三检波器检测的所述地震波的频谱，其中，在所述激发井和所述接收井所在位置连线上设置有所述多个第三检波器，且所述多个第三检波器之间的距离为第二预设距离；

基于第一频谱和第二频谱，确定低速层的地层品质因子，所述第一频谱为所述第一检波器检测的所述地震波的频谱，所述第二频谱为所述第二检波器检测的所述地震波的频谱；

基于所述第二频谱和多个第三频谱，确定低速层下伏地层的地层品质因子，所述多个第三频谱中每个第三频谱为所述多个第三检波器中对应的第三检波器检测的所述地震波的频谱；

通过指定公式，基于所述低速层的地层品质因子和所述低速层下伏地层的地层品质因子，确定所述近地表的地层品质因子；

所述指定公式为：

其中，所述Q为所述近地表的地层品质因子，所述Q₁为所述低速层的地层品质因子，所述Q₂为所述低速层下伏地层的地层品质因子，所述t₁为所述地震波在所述低速层中的传播时间，所述t₂为所述地震波在所述低速层下伏地层中的传播时间，且所述t₁和所述t₂是通过微测井技术预先测量得到。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二频谱和多个第三频谱，确定所述低速层下伏地层的地层品质因子，包括：

从所述第二频谱和所述多个第三频谱中，确定每两个频谱之间的地层品质因子，得到多个地层品质因子；

将所得到的多个地层品质因子的平均值确定为所述低速层下伏地层的地层品质因子。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第一频谱和第二频谱，确定所述低速层的地层品质因子，包括：

基于所述第一频谱和所述第二频谱，通过谱比法确定所述低速层的地层品质因子。

4.一种测量近地表地层品质因子的装置，其特征在于，所述装置包括：

第一确定模块，用于分别确定第一检波器和第二检波器检测的地震波的频谱，所述第一检波器和所述第二检波器分别设置于接收井的井底和井口，所述地震波由设置于激发井的井底的激发点激发，所述激发井的深度大于低速层厚度，所述接收井的深度小于所述低速层厚度，且所述接收井与所述激发井之间相距第一预设距离；

第二确定模块，用于确定多个第三检波器检测的所述地震波的频谱，其中，在所述激发井和所述接收井所在位置连线上设置有所述多个第三检波器，且所述多个第三检波器之间的距离为第二预设距离；

第三确定模块，包括：

第一确定单元，用于基于第一频谱和第二频谱，确定低速层的地层品质因子，所述第一频谱为所述第一检波器检测的所述地震波的频谱，所述第二频谱为所述第二检波器检测的所述地震波的频谱；

第二确定单元，用于基于所述第二频谱和多个第三频谱，确定低速层下伏地层的地层品质因子，所述多个第三频谱中每个第三频谱为所述多个第三检波器中对应的第三检波器检测的所述地震波的频谱；

第三确定单元，用于通过指定公式，基于所述低速层的地层品质因子和所述低速层下伏地层的地层品质因子，确定所述近地表的地层品质因子；

所述指定公式为：

其中，所述Q为所述近地表的地层品质因子，所述Q₁为所述低速层的地层品质因子，所述Q₂为所述低速层下伏地层的地层品质因子，所述t₁为所述地震波在所述低速层中的传播时间，所述t₂为所述地震波在所述低速层下伏地层中的传播时间，且所述t₁和所述t₂是通过微测井技术预先测量得到。