[发明专利]具有用于存储器的故障监测的电子设备及相关联的方法有效

专利信息
申请号: 201610466671.6 申请日: 2016-06-23
公开(公告)号: CN106803429B 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: O·兰简;F·E·C·迪塞格尼 申请(专利权)人: 意法半导体国际有限公司;意法半导体股份有限公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42;G11C29/44;G06F11/10
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 用于 存储器 故障 监测 电子设备 相关 方法
【权利要求书】:

1.一种电子设备,包括:

存储器,所述存储器具有经受瞬态故障和永久故障的多个存储器位置;以及

故障检测电路,所述故障检测电路耦接于所述存储器并且被配置成用于

在第一时间读取所述多个存储器位置并且在所述第一时间基于读取所述多个存储器位置确定包括所述瞬态和永久故障的第一故障计数和第一故障映射签名,

存储所述第一故障计数和所述第一故障映射签名,

在第二时间读取所述多个存储器位置并且在所述第二时间基于读取所述多个存储器位置确定包括所述瞬态和永久故障的第二故障计数和第二故障映射签名,

将所述存储的第一故障计数和第一故障映射签名与所述第二故障计数和所述第二故障映射签名进行比较以确定所述多个存储器位置的永久故障计数,以及

基于所述比较来生成指示,其中所述故障检测电路包括:存储器控制器,所述存储器控制器被配置成用于读取所述多个存储器位置;存储器错误处置器,所述存储器错误处置器耦接于所述存储器控制器;以及处理器,所述处理器被配置成将所述存储的第一故障计数和第一故障映射签名与所述第二故障计数和所述第二故障映射签名进行比较,从而基于所述存储的第一故障计数和所述第一故障映射签名与所述第二故障计数和所述第二故障映射签名之间的改变,确定所述永久故障计数,其中所述存储器控制器包括:循环冗余校验CRC电路,所述CRC电路被配置成用于检测所述瞬态和永久故障;以及错误计数器,所述错误计数器耦接于所述CRC电路,并且被配置成用于确定所述瞬态和永久故障的所述第一故障计数和所述第二故障计数。

2.如权利要求1所述的电子设备,其中,所述故障检测电路进一步包括指示器电路,所述指示器电路被配置成用于基于所述永久故障计数超过阈值而生成所述指示。

3.如权利要求1所述的电子设备,其中,所述存储器控制器被配置成用于在所述存储器内的不同块之上以三个副本来存储所述第一故障计数和所述第一故障映射签名以及所述永久故障计数。

4.如权利要求1所述的电子设备,其中,所述CRC电路被配置成用于针对每个瞬态和永久故障计算渐进式签名。

5.如权利要求1所述的电子设备,其中,所述第一时间包括所述存储器的掉电事件。

6.如权利要求1所述的电子设备,其中,所述第二时间包括所述存储器的上电事件。

7.如权利要求1所述的电子设备,其中,每个瞬态和永久故障具有与其相关联的存储器地址和校正子。

8.如权利要求1所述的电子设备,其中,每个瞬态故障包括单比特或双比特可校正的错误,而每个永久故障包括三比特不可校正的错误。

9.如权利要求1所述的电子设备,其中,所述存储器包括非易失性存储器。

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