[发明专利]半导体激光器及其温度控制方法有效
申请号: | 201610517379.2 | 申请日: | 2016-07-04 |
公开(公告)号: | CN107579429B | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 胡飞;谭大治;李屹 | 申请(专利权)人: | 深圳光峰科技股份有限公司 |
主分类号: | H01S5/024 | 分类号: | H01S5/024 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体激光器 及其 温度 控制 方法 | ||
1.一种半导体激光器的温度控制方法,其特征在于,所述半导体激光器具有容置腔体,所述容置腔体内装有激光器和用于对激光器进行冷却的冷却机构;
所述温度控制方法包括第一温度控制模式和第二温度控制模式,所述第一温度控制模式和第二温度控制模式之间可进行选择切换;所述第一温度控制模式包括步骤:
外部数据采集:采集半导体激光器外部环境的温度和湿度;
计算露点温度:根据采集的温度和湿度计算出环境露点温度;
温度设置:根据环境露点温度确定激光器的工作壳温,所述工作壳温高于或等于环境露点温度;并将冷却机构的控温点设置为与工作壳温相等;
确定输入电流:根据输入电流与工作壳温和激光器输出光功率的函数关系,保证激光器输出光功率大致稳定,计算出当前工作壳温对应的输入电流;
调整输入电流:按照计算出的输入电流值向激光器输入对应的电流;
所述第二温度控制模式包括步骤:
腔体内温度采集:采集容置腔体内位于激光器周围的空间的温度;
温度设置:根据采集的腔体内温度确定激光器的工作壳温,所述工作壳温等于或高于所述腔体内温度,并将冷却机构控温点设置为等于所述腔体内温度;
确定输入电流:根据输入电流与工作壳温和激光器输出光功率的函数关系,保证激光器输出光功率大致稳定,计算出当前工作壳温对应的输入电流;
腔体内湿度采集:采集容置腔体内位于激光器周围的空间的湿度;
温度调整:根据采集的腔体内湿度确定工作壳温,并调整控温点后,返回确定输入电流步骤。
2.如权利要求1所述的温度控制方法,其特征在于,在温度设置步骤中,将冷却机构的控温点与本步骤确定的工作壳温进行比较,如控温点=工作壳温,则进入下一步骤;如控温点≠工作壳温,则将控温点的值设置为工作壳温的值,并进入下一步骤。
3.如权利要求1所述的温度控制方法,其特征在于,在调整输入电流步骤完成后,间隔设定时间,重返外部数据采集步骤。
4.如权利要求1所述的温度控制方法,其特征在于,在温度调整中,预先设定腔体内湿度的阈值上限和阈值下限,当腔体内湿度<阈值下限,则设置新控温点=当前控温点-第一步长,新的工作壳温=新控温点,并返回输入电流步骤,根据新工作壳温计算出输入电流;当腔体内湿度>阈值上限,则设置新控温点=当前控温点+第一步长,新的工作壳温=新控温点,并返回输入电流步骤,根据新工作壳温计算出输入电流;当阈值下限<腔体内湿度<阈值上限,则返回输入电流步骤;其中,第一步长表示温度调节的步长。
5.如权利要求4所述的温度控制方法,其特征在于,所述第一步长的值随着湿度的升高而减小。
6.如权利要求1所述的温度控制方法,其特征在于,当容置腔体内的温度和/或湿度相比半导体激光器外部环境的温度和/或湿度高,且高出的差值等于或大于设定差值,则由第一温度控制模式切换到第二温度控制模式。
7.一种半导体激光器的温度控制方法,其特征在于,所述半导体激光器具有容置腔体,所述容置腔体内装有激光器和用于对激光器进行冷却的冷却机构;
所述温度控制方法包括步骤:
腔体内温度采集:采集容置腔体内位于激光器周围的空间的温度;
温度设置:根据采集的腔体内温度确定激光器的工作壳温,所述工作壳温等于或高于腔体内温度,并将冷却机构的控温点设置为等于腔体内温度;
确定输入电流:根据输入电流与工作壳温和激光器输出光功率的函数关系,保证激光器输出光功率大致稳定,计算出当前工作壳温对应的输入电流;
腔体内湿度采集:采集容置腔体内位于激光器周围的空间的湿度;
温度调整:根据采集的湿度确定工作壳温,并调整控温点后,返回确定输入电流步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳光峰科技股份有限公司,未经深圳光峰科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610517379.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。