[发明专利]晶片封装体的制造方法有效

专利信息
申请号: 201610520750.0 申请日: 2016-07-05
公开(公告)号: CN107579050B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 施养明;许宏源 申请(专利权)人: 慧隆科技股份有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L23/373;H01L21/50
代理公司: 11228 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 张秋越<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 中国台湾台北市南*** 国省代码: 中国台湾;TW
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摘要:
搜索关键词: 晶片 封装 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种晶片封装体的制造方法,其特征在于,包含:

a.提供一第一晶圆以及一热扩散膜,并且将该热扩散膜的其中一面贴附在该第一晶圆的其中一面;

b.在该热扩散膜上开设多个缺口;

c.提供一第二晶圆,并且将该热扩散膜的另一面贴附在该第二晶圆的其中一面;

d.将该第二晶圆裁切形成多个晶片,并且同时将该热扩散膜裁切形成贴附在各该晶片的多个热扩散层;

e.提供一基板并且将该晶片设置在该基板;及

f.提供对应该多个缺口的多个导线,并且将各该导线穿过对应的各该缺口连接于该基板与该晶片之间。

2.如权利要求1所述的晶片封装体的制造方法,其特征在于,在步骤f之后还包含步骤g:提供一封装结构,并且将该封装结构包覆该晶片。

3.如权利要求1所述的晶片封装体的制造方法,其特征在于,该热扩散膜之内包含有导热材料。

4.如权利要求3所述的晶片封装体的制造方法,其特征在于,该导热材料为片状石墨烯。

5.如权利要求1所述的晶片封装体的制造方法,其特征在于,在步骤c中,在该热扩散膜上布设黏着剂并且贴附该第二晶圆。

6.如权利要求1所述的晶片封装体的制造方法,其特征在于,在步骤c与步骤d之间更包含步骤h:将该第一晶圆自该热扩散膜上移除。

7.如权利要求1所述的晶片封装体的制造方法,特征在于,在步骤d中,同时将该第一晶圆裁切形成贴附在各该热扩散层的多个保护层。

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