[发明专利]电子设备屏蔽效能测试装置、系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试系统及方法，特别是电子设备屏蔽效能测试装置、系统及方法。

背景技术

在产品设计中早期，因工作站机箱的结构复杂，缺乏一种对机箱的电磁屏蔽效能评估方法，以至于无法在设计早期立即对电磁兼容的辐射测试项目采取有效的措施，使机箱在辐射测试中通过测试，从而导致很多产品在辐射测试中都无法通过。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种有效测试电子设备屏蔽效能的系统及方法。

一种电子设备屏蔽效能测试系统，包括测试装置及射频无反射室，所述测试装置包括信号源、天线板、接收天线及接收机，所述天线板上设置天线模组，所述信号源用于接通所述天线模组后产生场强，所述接收机用于通过所述接收天线而接收所述场强，当所述测试装置放置在所述射频无反射室时，所述接收机接收参考场强；当所述信号源与所述天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内、及所述测试装置与所述屏蔽壳体一起放置在所述射频无反射室进行测试时，所述接收机接收测试场强，测试人员根据所述参考场强及所述测试场强计算出电磁屏蔽效能值，从而通过所述电磁屏蔽效能值判断所述屏蔽壳体是否符合要求。

优选地，所述天线板上开设有过孔，所述过孔用于传送所述场强信号。

优选地，所述天线板包括四层，一连接器通过第一层与所述信号源连接，第二层为天线层，第三层为铜层，第四层为信号层，所述第二层位于所述第一层与所述第三层之间，所述第三层位于所述第二层与所述第四层之间。

优选地，当所述电磁屏蔽效能值不符合要求时，所述测试人员查找所述屏蔽壳体的缺陷，并根据所述屏蔽壳体的缺陷采取对应的措施，再对所述屏蔽壳体进行测试，直到所述屏蔽壳体符合要求。

一种测试装置，用于测试电子设备的屏蔽效能，包括信号源、天线板、接收天线及接收机，所述天线板上设置天线模组，所述信号源用于接通所述天线模组后产生场强，所述接收机用于通过所述接收天线而获取所述场强，当所述测试装置放置在所述射频无反射室时，所述接收机接收参考场强；当所述信号源与所述天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内、及所述测试装置与所述屏蔽壳体一起放置在所述射频无反射室进行测试时，所述接收机接收测试场强，测试人员根据所述参考场强及所述测试场强计算出电磁屏蔽效能值，从而通过所述电磁屏蔽效能值判断所述屏蔽壳体是否符合要求。

一种电子设备屏蔽效能测试方法，包括以下步骤：

仿真设计测试装置的天线板，在所述天线板上设置天线模组；

将测试装置在射频无反射室中进行测试，从而获取参考场强；

将所述测试装置的信号源与所述天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内，并将所述测试装置及所述屏蔽壳体一起放置于所述射频无反射室中进行测试，从而获取测试场强；

根据所述参考场强及所述测试场强，计算出电磁屏蔽效能值；及

判断所述电磁屏蔽效能值是否符合要求。

优选地，所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在判断所述电磁屏蔽效能值不符合要求后查找所述屏蔽壳体的缺陷。

优选地，所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在查找所述屏蔽壳体的缺陷后根据所述缺陷采取对应的措施。

优选地，所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在采取所述对应的措施后进行上述“将测试装置在射频无反射室中进行测试，从而获取参考场强”步骤。

优选地，所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在“仿真设计测试装置的天线板，在所述天线板上设置天线模组”步骤后仿真测试所述天线板。

与现有技术相比，上述测试装置、电子设备屏蔽效能测试系统及方法中，所述测试人员可以通过计算出的所述电磁屏蔽效能值判断所述屏蔽壳体是否符合要求，当判断所述电磁屏蔽效能值符合要求后可以判断所述屏蔽壳体符合要求，从而所述屏蔽壳体在测试中可以通过。

附图说明

图1是本发明电子设备屏蔽效能测试系统的一较佳实施方式的一功能模块图。

图2是图1中一信号源与一天线板放置于一屏蔽壳体内的一功能模块图。

图3是图1中的天线板的一侧视图。

图4是本发明电子设备屏蔽效能测试方法的一流程图。

主要元件符号说明