[发明专利]基于原位透射电子显微镜的纳米材料交流电学性能测试装置及方法有效
| 申请号： | 201610539948.3 | 申请日： | 2016-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN106124543B | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 孙立涛;马青;董辉;张秋波;徐涛;苏适 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/2202;G01N23/2206;G01N27/02;G01N27/22;G01N1/28 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 杨晓玲 |
| 地址： | 211103 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 原位 透射 电子显微镜 纳米 材料 交流 电学 性能 测试 装置 方法 | ||
【说明书】：
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