[发明专利]深度校正测试设备及其测试方法

权利要求书

1.一深度校正测试设备，用于对待测模组进行深度校正测试，其特征在于，包括：

一壳体，

一设备支架，其连接于所述壳体，

一测试组件，

一控制面板，和

一电控组件，其中所述测试组件、所述电控组件、设置于所述壳体内，所述控制面板设置于所述壳体表面，所述测试组件、所述控制面板以及所述电控组件电气性连接，所述电控组件通过所述控制面板控制所述测试组件对所述待测模组进行深度校正测试，其中所述测试组件包括一第一测试部件、一第二测试部件和一第三测试部件，各所述测试部件依序相互平行设置于所述设备支架，其中所述设备支架进一步包括多列垂直于水平线的支撑部以及与所述支撑部垂直连接的基板，所述支撑部用于所述深度校正测试设备的整体承重，所述基板用于支撑所述测试组件，所述测试组件能够在所述基板上移动，其中所述基板包括相互平行并连接于所述支撑部的一第一基板、一第二基板以及一第三基板，所述第一测试部件设置在所述第一基板上，所述第二测试部件设置在所述第二基板上，所述第三测试部件设置在所述第三基板上，其中，所述待测模组被放置于所述测试组件，所述待测模组移动至所述第三测试部件的第三标板中心进行测试，通过所述电控组件旋转所述第三标板的角度，分别在0°、+20°、-20°三个角度下进行拍图；移开所述第三标板至所述待测模组视场角外，通过所述电控组件旋转所述第二测试部件的第二标板角度，分别在0°、+30°、-30°三个角度下进行拍图；移开所述第二标板至所述待测模组视场角外，通过所述电控组件旋转所述第一测试部件的第一标板角度，分别在0°、+30°、-30°三个角度下进行拍图。

2.根据权利要求1所述的深度校正测试设备，其中所述测试组件的所述第一测试部件、所述第二测试部件和所述第三测试部件的每个测试部件包括一模组机架、一旋转伺服电机、一调节组件、一滑动组件、一标板固定架、一光源和一连杆轴，其中所述模组机架连接所述滑动组件上，并随着所述滑动组件在相应基板上移动，所述滑动组件连接于相应基板上，所述调节组件与所述模组机架连接，能够随所述模组机架移动，所述旋转伺服电机与所述调节组件连接，所述连杆轴连接于所述调节组件，所述标板固定架连接于所述连杆轴，所述光源和相应的标板通过所述标板固定架固锁在一起。

3.根据权利要求2所述的深度校正测试设备，其中所述模组机架进一步包括一机架置板和两个子机架连接件，各所述子机架连接件分别垂直连接于所述机架置板的两端。

4.根据权利要求3所述的深度校正测试设备，其中各所述子机架连接件还各包括一直线导轨和与所述直线导轨相匹配的滑槽。

5.根据权利要求4所述的深度校正测试设备，其中所述滑动组件进一步包括两个传动轴、一滑动带、一固定件，所述滑动带的两端分别连接两个所述传动轴，所述传动轴具有带动所述滑动带转动的电机，所述固定件一端连接于所述模组机架，另一端具有穿过所述滑动带的一穿孔，并固定于所述滑动带，从而所述滑动带能够带动所述模组机架沿所述基板滑动。

6.根据权利要求5所述的深度校正测试设备，其中所述调节组件进一步包括两个子调节件，其中一所述子调节件的一固定板与所述子机架连接件连接，其中另一所述子调节件进一步包括一角度板和一指针。

7.根据权利要求2所述的深度校正测试设备，其中所述标板固定架进一步包括一置板、多个连接所述置板以及所述连杆轴的置板夹具、以及多个标板夹具连接于所述连杆轴并能够固定所述标板。

8.根据权利要求1所述的深度校正测试设备，其中所述第一测试部件的标板固定架的尺寸在数值上大于所述第二测试部件的标板固定架的尺寸，也大于所述第三测试部件的标板固定架的尺寸，所述第二测试部件的标板固定架的尺寸在数值上大于所述第三测试部件的标板固定架的尺寸。