[发明专利]一种硅光电倍增器测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种硅光电倍增器测试系统，包括驱动模块、光源模块、硅光电倍增器单元、暗箱、比较电路模块、电源模块、逻辑分析仪及计算机；其特征在于，所述驱动模块与所述光源模块通信连接，所述驱动模块产生模拟脉冲信号作为所述光源模块的输入信号，用于驱动该光源模块产生光脉冲；所述光源模块产生的光脉冲作为硅光电倍增器单元的输入信号为硅光电倍增器提供光激励，所述光脉冲均匀照射在所述硅光电倍增器单元中各个硅光电倍增器的光敏面上；所述硅光电倍增器单元放置在暗箱中，所述暗箱用于隔绝外界环境中的光；所述比较电路模块分别与所述硅光电倍增器单元及所述驱动模块通信连接；所述硅光电倍增器单元产生的模拟脉冲响应信号作为比较电路模块的输入信号，用于与预先设置的固定阈值进行比较，从而筛选出能够产生特定信号幅值大小的硅光电倍增器；所述驱动模块产生的用来驱动所述光源模块的模拟脉冲信号同步作为比较电路模块的其他输入信号，经所述比较电路模块之后产生相应的数字脉冲信号，用于为所述逻辑分析仪提供触发信号；所述逻辑分析仪与比较电路模块通信连接，用于在所述逻辑分析仪被触发之后记录所述比较电路模块筛选出的能够产生特定信号幅值大小的硅光电倍增器的信息；所述计算机与所述逻辑分析仪通信连接，用于对所述逻辑分析仪记录的信息进行分析、处理和保存；所述电源模块用于为驱动模块、硅光电倍增器单元、比较电路模块以及逻辑分析仪提供供电。

2.根据权利要求1所述的一种硅光电倍增器测试系统，其特征在于，所述比较电路模块中预先设定的固定阈值根据硅光电倍增器的输出响应信号为电流脉冲信号或电压脉冲信号而相应地设定为电流阈值或电压阈值；所述比较电路模块和逻辑分析仪的最大工作频率大于所述硅光电倍增器单元的信号产生频率。

3.根据权利要求1或2所述的一种硅光电倍增器测试系统，其特征在于，还包括一延时单元；所述延时单元分别与驱动模块及光源模块通信连接，所述驱动模块产生的模拟脉冲信号经延时单元延时后，作为所述光源模块的输入信号用来驱动该光源模块产生光脉冲；所述延时单元用于确保所述硅光电倍增器产生的模拟脉冲响应信号在所述逻辑分析仪的触发信号之后传送到所述逻辑分析仪中；所述电源模块同时也用于为所述延时单元提供供电。

4.根据权利要求3所述的一种硅光电倍增器测试系统，其特征在于，还包括一放大电路模块；所述放大电路模块分别与硅光电倍增器单元及比较电路模块通信连接；所述硅光电倍增器单元产生的模拟脉冲响应信号作为所述放大电路模块的输入信号，经该放大电路模块进行信号放大之后，输入到所述比较电路模块中；所述电源模块同时也用于为所述放大电路模块提供供电。

5.根据权利要求4所述的一种硅光电倍增器测试系统，其特征在于，所述硅光电倍增器单元至少包含一个硅光电倍增器；所述光源模块包含一个光源及至少一根光纤，且所述硅光电倍增器单元中的每一个硅光电倍增器均对应一根光纤，所述每一根光纤均垂直位于每一个硅光电倍增器光敏面的正上方；所述光源模块中的光纤规则排列，用于将光源产生的光均匀分割，进而均匀照射到每一个硅光电倍增器光敏面上；所述暗箱设置有暗格，且所述硅光电倍增器单元中的每一个硅光电倍增器均对应一个暗格，测试时暗格彼此之间可以实现光隔离；所述放大电路模块包含至少一个放大电路单元，且所述硅光电倍增器单元中的每一个硅光电倍增器均对应一个放大电路单元；所述比较电路模块至少包含两个比较器单元，且所述驱动模块对应一个比较器单元，所述硅光电倍增器单元中的每一个硅光电倍增器也均对应一个比较器单元；所述逻辑分析仪至少包含两个数据通道，所述比较电路模块中的每一个比较器单元均对应一个数据通道，且与驱动模块所对应的数据通道作为触发信号通道，用于触发其他数据通道的工作。

6.一种基于权利要求4或5所述的硅光电倍增器测试系统的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

S61，打开电源模块，并进行相应的设置，使得系统中各单元或模块供电正常，且均能正常工作；并设置电源模块，使其控制硅光电倍增器单元中的各个硅光电倍增器均工作在盖革模式下；

S62，依次打开驱动模块、延时单元、放大电路模块、比较电路模块和逻辑分析仪，进行系统的启动准备；

S63，打开计算机，运行相应的数据接收和处理软件，准备进行数据的接收和处理；

S64，对驱动模块进行设置，设置驱动光源模块所需的模拟脉冲信号的幅值、周期参数，随后开启脉冲信号的输出；

S65，在计算机上对逻辑分析仪传输的数据进行分析、处理和保存。