[发明专利]正电子发射断层成像系统探测效率检测、校正方法及装置有效
| 申请号： | 201610617134.7 | 申请日： | 2016-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN106264588B | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 申宝忠;郭金霞;吕杨;唐嵩松;王凯 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 正电子 发射 断层 成像 系统 探测 效率 检测 校正 方法 装置 | ||
【说明书】：
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