[发明专利]一种固态硬盘的寿命测试方法及装置

权利要求书

1.一种固态硬盘的寿命测试方法，其特征在于，该方法包括：

将冷数据和热数据分别写入待测试的固态硬盘中，并且将冷数据存入另一设备中进行备份；

将所述热数据持续写入所述固态硬盘，并记录所述热数据的写入次数；

根据所述热数据的写入次数，按照预设周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致，如果是，则继续将所述热数据持续写入所述固态硬盘，否则，测试结束。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述热数据的大小小于或等于所述待测试的固态硬盘中一个块的存储空间大小。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将冷数据和热数据分别写入待测试的固态硬盘中，具体包括：

将冷数据写入待测试的固态硬盘中的块中，并预留一空白块；

将热数据写入所述预留的空白块中。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将所述热数据持续写入所述固态硬盘，具体包括：

利用所述热数据，对所述固态硬盘持续进行擦除、写入操作。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述热数据的写入次数，按照预设周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致，具体包括：

在所述热数据的写入次数小于或等于预设的门限值的阶段，按照预设第一周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致；在所述热数据的写入次数大于所述门限值的阶段，按照预设第二周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致，其中，所述第二周期大于所述第一周期。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，对于多层单元闪存类型的固态硬盘，所述门限值为5万次，所述第一周期为1万次，所述第二周期为100万次；

对于单层单元闪存类型的固态硬盘，所述门限值为50万次，所述第一周期为10万次，所述第二周期为100万次。

7.一种固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于，包括：

第一单元，用于将冷数据和热数据分别写入待测试的固态硬盘中，并且将冷数据存入另一设备中进行备份；

第二单元，用于将所述热数据持续写入所述固态硬盘，并记录所述热数据的写入次数；

第三单元，用于根据所述热数据的写入次数，按照预设周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致，如果是，则继续将所述热数据持续写入所述固态硬盘，否则，测试结束。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述热数据的大小小于或等于所述待测试的固态硬盘中一个块的存储空间大小。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一单元将冷数据和热数据分别写入待测试的固态硬盘中，具体包括：

将冷数据写入待测试的固态硬盘中的块中，并预留一空白块；

将热数据写入所述预留的空白块中。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第二单元将所述热数据持续写入所述固态硬盘，具体包括：

利用所述热数据，对所述固态硬盘持续进行擦除、写入操作。

11.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第三单元根据所述热数据的写入次数，按照预设周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致，具体包括：

在所述热数据的写入次数小于或等于预设的门限值的阶段，按照预设第一周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致；在所述热数据的写入次数大于所述门限值的阶段，按照预设第二周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致，其中，所述第二周期大于所述第一周期。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，对于多层单元闪存类型的固态硬盘，所述门限值为5万次，所述第一周期为1万次，所述第二周期为100万次；

对于单层单元闪存类型的固态硬盘，所述门限值为50万次，所述第一周期为10万次，所述第二周期为100万次。