[发明专利]硅基液晶测试平台

说明书

技术领域

本发明涉及硅基液晶半自动测试平台领域，尤甚涉及用于硅基液晶测试平台的伸缩转接器。

背景技术

硅基液晶又称液晶硅基板(Liquid Crystal On Silicon, LCoS) 其结构与薄膜晶体管液晶(TFT -LCD)相类似， TFT-LCD是在上下两块玻璃基板中灌入液晶，而LCOS则是以CMOS制程形成的驱动电路作为下层基板。

对于LCOS产品，通常而言，可对其外观及功能性进行检测，举例而言，对于功能性的检测，可在一检测技术或检测环境下测试LCOS内部电路的正确性或影像成像的质量；对于外观上的检测，可在检测技术或检测环境下检查玻璃或产品外观的缺陷，例如，表面及内部脏污确认。

为了对LCOS进行检测，常使用一半自动测试平台，此平台具有一光学路径以对LCOS进行检测，此光学路径可包括具有延迟板、相位板、偏振分光棱镜、分光镜、透镜、镜头以及一相机。而在此光学路径中，大部分光学组件的位置及间距是不可调的，举例而言，LCOS与延迟板的间距为固定、延迟板至偏振分光棱镜的间距也为固定，同时，相机位置需配合操作流程与操作环境，因此也可能是固定的。而相机至镜头之间通常会有一个转接器来支撑或固定镜头，并且固定镜头与相机之间的距离。

由上述可知，在转接器的使用下，相机与镜头的距离可因此而固定。若需要在测试平台上要对不同LCOS产品进行测试，则因LCOS产品具有不同的面板尺寸，又因光学路径设计之下无法调动光学组件的间距，故在换一个不同的LCOS产品测试时，需要更换一个不同尺寸的转接器来配合LCOS产品，以达到测试平台的不同测试条件。另一方面，虽然镜头可以微调焦距，然而所能微调的程度较小，不足以应付不同尺寸类型的LCOS产品。制造不同的转接器来满足不同产品的测试条件的成本非常高，因为产品的总类可能非常多，同时在更换转接器时常常使得光学路径的环境有所变动，可能会影响测试结果，甚至增加损伤光学组件或镜头的风险，对于不同总类产品的测试环境，若使用单一规格的转接器对于检测环境而言非常不方便、容易变更已固定的检测环境，并且增加了更多的时间与金钱上的成本。

发明内容

有鉴于上述现有的单一规格转接器的缺失，本发明即用解决上述的问题。本发明的一目的在于提供一种硅基液晶测试平台，改进现有的测试平台使用的转接器需要花费过多时间更换转接器及需要制造许多不同规格的转接器的缺失，意即，本发明的硅基液晶测试平台的伸缩转接器，在更换测试产品的过程中不需将转接器拿下更换，或制造不同规格的转接器，而是使用伸缩长度来完成镜头位置的调节，可在不需更换转接器的状况下达到测试环境的要求。

为了达到上揭的目的及其他目的，本发明提供一种硅基液晶测试平台，测试平台的伸缩转接器，是使用多个环体耦接，进行伸缩，以调节转接器的长度。本发明的硅基液晶测试平台，至少包含：承载基座；伸缩转接器，配置于承载基座的上方，伸缩转接器至少包含：至少一第一环体，具有一第一半径的一第一孔洞贯穿；以及至少一第二环体，具有一第二半径的一第二孔洞贯穿，耦接至少第一环体，其中至少第一环体与至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度；镜头，连接伸缩转接器；及偏振分光棱镜，配置于检测光学路径上。

为达上述所有目的，其中第二半径大于或等于至少一第一环体的半径，使得至少一第二环体覆盖于至少一第一环体上。

为达上述所有目的，其中至少第二环体上具有止付螺纹，用以固定至少第一环体与至少第二环体。

为达上述所有目的，其中至少一第一环体的一第一表面向内延伸，用以嵌入一镜头。

为达上述所有目的，其中至少一第一环体与至少一第二环体的材料为铝。

为达上述所有目的，其中伸缩转接器伸缩范围为0至70mm。

为达上述所有目的，其中更包含至少一第三环体，耦接至少一第二环体，其中至少第三环体与至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度。

为达上述所有目的，本发明提供一种硅基液晶测试平台，至少包含：承载基座；伸缩转接器，配置于承载基座的上方，伸缩转接器至少包含：至少一第一环体，具有一第一半径的一第一孔洞贯穿；以及至少一第二环体，具有一第二半径的一第二孔洞贯穿，耦接至少第一环体，其中至少第一环体与至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度；镜头，连接伸缩转接器；偏振分光棱镜，配置于检测光学路径上；以及延迟板，配置于检测光学路径上，邻接偏振分光棱镜。