[发明专利]液晶面板测试平台

权利要求书

1.一种液晶面板测试平台，其特征在于，其至少包含：

一影像测试板，具有至少一侦测针脚；

一转接板，配置于所述影像测试板的对面，具有至少一金属垫；以及

一智能接触判断装置，与所述影像测试板及所述转接板耦接，所述智能接触判断装置至少包含：

至少一发光二极管，耦接所述至少一金属垫；以及

至少一电路，耦接所述至少一侦测针脚，其中所述电路具有一电阻，以及其中当所述至少一金属垫接触所述至少一侦测针脚时，所述发光二极管与所述电路电性耦接，以利于判断所述转接板与所述影像测试板是否对准。

2.如权利要求1所述的液晶面板测试平台，其特征在于，其中所述至少一侦测针脚短于所述影像测试板的至少一讯号针脚，以利于对所述影像测试板进行接触判断。

3.如权利要求2所述的液晶面板测试平台，其特征在于，其中所述至少一侦测针脚的长度短于所述至少一讯号针脚长度的80％。

4.如权利要求2所述的液晶面板测试平台，其特征在于，其中所述至少一侦测针脚位于所述影像测试板所有针脚中的四个角落，以利于判断所述影像测试板与所述转接板三维方向的对准状况。

5.如权利要求2所述的液晶面板测试平台，其特征在于，其中所述电路的供电电压为3.3V。

6.如权利要求1所述的液晶面板测试平台，其特征在于，其中液晶面板为硅基液晶。

7.一种用于液晶面板测试平台的智能接触判断方法，其特征在于，所述智能接触判断方法包含：

将至少一发光二极管耦接一转接板的至少一金属垫；

将至少一电路的一电阻耦接一影像测试板的至少一侦测针脚，所述转接板配置于所述影像测试板的对面,其中设定该电路的该电阻值，以增加该发光二极管的敏感度，同时增加该影像测试板及该转接板的对准精确度；以及

当所述至少一金属垫接触所述侦测针脚使得所述至少一电路与所述至少一发光二极管电性耦接，则所述转接板对准所述影像测试板。

8.如权利要求7所述的用于液晶面板测试平台的智能接触判断方法，其特征在于，其中包含步骤：使用所述影像测试板中较短的针脚做为侦测针脚。

9.如权利要求8所述的用于液晶面板测试平台的智能接触判断方法，其特征在于，其中包含步骤：使用所述影像测试板中长度短于至少一讯号针脚长度的80％的针脚做为侦测针脚。

10.如权利要求7所述的用于液晶面板测试平台的智能接触判断方法，其特征在于，其中包含步骤：所述至少一侦测针脚位于所述影像测试板的四个角落，利用所述至少一发光二极管的发光数量来判断所述转接板是否对准所述影像测试板。

11.如权利要求7项所述的用于液晶面板测试平台的智能接触判断方法，其特征在于，其中包含步骤：设定所述电路的阻值，以增强所述至少一侦测针脚是否对准所述至少一金属垫的判断准确度。