[发明专利]用于质谱仪的限流离子引入接口装置有效
申请号: | 201610642476.4 | 申请日: | 2016-08-08 |
公开(公告)号: | CN107706082B | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
发明(设计)人: | 蒋公羽;张俊生;孙文剑 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01J49/04 | 分类号: | H01J49/04;H01J49/24 |
代理公司: | 31219 上海光华专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 高彦<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 日本国京*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 质谱仪 限流 离子 引入 接口 装置 | ||
1.一种用于质谱仪的限流离子引入接口装置,其特征在于,包括以下结构:
开口位于上游较高气压环境的离子源区的气流约束管;其中,所述气流约束管为单毛细管结构;
出口位于下游较低气压的离子传输电极系统区域的离子去溶剂管;
所述气流约束管的长度与其最大内径比例大于等于10:1;
所述离子去溶剂管的最小内径为所述气流约束管的最大内径的3倍及以上;
所述离子去溶剂管的长度大于所述气流约束管的长度;
温度控制设备,用于对所述离子去溶剂管的温度进行控制,获得用于去除残余溶剂-离子间结合的确定温度。
2.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,下游离子去溶剂管的可用加热温度为50至1000摄氏度。
3.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述气流约束管的内径为0.10-0.25mm,长度为4-30mm。
4.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述离子去溶剂管的内径为0.5-4mm,长度为40-90mm。
5.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,下游直接连接工作气压为100-700Pa的离子导引;所述气流约束管,其内径为0.15-0.25mm,其内径与长度的比例为1:20-1:150;所述离子去溶剂管,其内径为0.75-1.1mm,其内径与长度比例为1:50-1:70,其温度为150-400摄氏度。
6.根据权利要求5所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述气流约束管进一步通过管体加热限制流导时,其加热温度为250-550摄氏度。
7.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述气流约束管和离子去溶剂管为相同外径的不锈钢毛细管制成,在同一个材料块上被加工出。
8.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述气流约束管和离子去溶剂管通过螺纹紧固的锥形轴套封接形成真空密封的可拆卸连接,其中,所述气流约束管可抛弃作为耗材,以供受污染时低成本更换。
9.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述气流约束管和离子去溶剂管外壁焊接出薄壁结构,用于支撑真空密封的弹性密封圈。
10.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述离子去溶剂管的侧壁有小孔或半透膜结构,用以引入气流鞘以进一步压缩中轴离子样品气流。
11.根据权利要求10所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,所述小孔或半透膜结构引入可挥发标准品的蒸汽,与中轴离子样品气流一并引入作为质谱调谐的外标或内标。
12.根据权利要求1所述的限流离子引入接口装置,其特征在于,采用气体对所述气流约束管加热时,其工作气流约束管前端工作温度范围从高于20摄氏度至550摄氏度。
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