[发明专利]一种铁谱片图像分析方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及铁谱分析领域，尤其涉及一种铁谱片图像分析方法及系统。

背景技术

随着工业科学技术的发展，铁谱技术已经得到了越来越广泛的应用，是一种非常重要的机械设备磨擦磨损性能检测技术。其中分析式铁谱仪是最基本和最具有铁谱技术特点的一种。分析式铁谱仪通过采集的油样制作铁谱片，将制作好的铁谱片放在显微镜下，通过观察获取沉积在铁谱片上的油样中的磨粒形貌、尺度和成分等信息，便可以实现对设备磨擦磨损性能的定性和定量分析。

对于铁谱片的分析，一般方法是检测人员利用显微镜获取一定放大倍率的图像，依据经验或者与标准铁谱片图像进行对比，定性分析磨粒形貌、种类和成分等信息。然而，仅通过显微镜无法保存具有行业典型磨粒形貌的铁谱片图像，常常造成信息的极大浪费；此外，由于获取准确磨粒颗粒面积、边缘周长、长宽比等定量信息则十分困难，因此完全依靠人工对铁谱片图像进行分析，是一种对检测人员自身经验和素质要求又高，分析效率又低的方法，而且分析的结果受检测人员的主观因素影响，常常引起较大的偏差，甚至导致误判。

发明内容

本发明的目的是提供一种铁谱片图像分析方法，解决铁谱片图像分析效率低、误差大的问题。

为解决上述问题，本发明提供的一种铁谱片图像分析方法，包括以下步骤：

获取要分析的铁谱片图像；

计算所述铁谱片图像中所要分析的磨粒颗粒的定量信息；

根据所述定量信息查找与所述磨粒颗粒相匹配的标准铁谱片图像；

将所述定量信息与所述标准铁谱片图像进行比较分析，得出磨损情况。

所述计算所述铁谱片图像中所要分析的磨粒颗粒的定量信息步骤，包括：

先圈选出铁谱片图像中所要分析的磨粒颗粒边缘，然后根据所述摩粒颗粒的边缘计算所述磨粒颗粒的定量信息，直至将所要分析的铁谱片图像中的磨粒颗粒计算完为止。

采用曲线工具对所述磨粒颗粒边缘进行圈选，获得所述磨粒颗粒边缘上每个像素点的坐标；采用图像识别技术根据所述磨粒颗粒边缘上像素点的坐标计算所述磨粒颗粒的定量信息。

所述磨粒颗粒的定量信息为磨粒颗粒的面积、磨粒颗粒的边缘周长和磨粒颗粒的长宽比中的一个或多个。

所述获取要分析的铁谱片图像的方式包括：

通过图像采集装置采集所要分析的铁谱片图像且存储，并创建铁谱片图像库；或者

直接导入存储设备中预先存储的铁谱片图像。

将计算得到的所述定量信息生成记录文档，并将所述记录文档保存在与所述铁谱片图像相同的文件路径下。

所述根据所述定量信息查找与所述磨粒颗粒相匹配的标准铁谱片图像步骤，包括：

根据所述磨粒颗粒的类型调取与所述磨粒颗粒同一种类的磨粒颗粒的标准铁谱片图像。

所述将所述定量信息与所述标准铁谱片图像进行比较分析，得出磨损情况步骤之后，还包括：

生成铁谱片图像的分析报告，并存储。

相应于本发明提供的上述方法，本发明提供了一种铁谱片图像分析装置，包括：

获取模块，用于获取要分析的铁谱片图像；

计算模块，用于计算所述铁谱片图像中所要分析的磨粒颗粒的定量信息；

查找模块，用于根据所述定量信息查找与所述磨粒颗粒相匹配的标准铁谱片图像；

铁谱片图像分析模块，用于将所述定量信息与所述标准铁谱片图像进行比较分析，得出磨损情况。

相应于本发明提供的上述方法，本发明还提供了一种铁谱片图像分析系统，其特征在于，包括铁谱片图像采集装置和所述的了一种铁谱片图像分析装置，所述铁谱片图像采集装置，用于采集要分析的铁谱片图像。

通过采用本发明提供的一种铁谱片图像分析方法及系统，由于可以通过图像采集装置直接采集所需分析的图像，或者可直接从存储设备上直接获取事先存储的大量铁谱片图像进行分析，这大大地提高了铁谱片图像获取、查询的便捷性；且本发明在分析时，采用图像分析技术逐个对大量的磨粒颗粒进行定量信息计算，并可以随时查询标准铁谱片图像进行对比分析，且相比传统方法，仅靠试验人员的主观观察定性的判断颗粒的形貌特征，无法做出准确的定量分析，采用本发明的提供的方法可极大的降低对试验人员的素质要求，极大的提高工作效率3-5倍，且准确性，客观性大幅提高。

此外，本方案使用户可以建立自身的铁谱片图像库，且图像库中的铁谱片图像和生成的分析报告都可随时检索查询，这减少了信息的浪费，给用户后续分析时带来很高的信息参考价值和方便，从而，整体上大大地提高了铁谱片图像分析的效率，和降低了分析的误差。

附图说明