[发明专利]一种判别顺式与反式几何异构体的近红外光谱分析方法

权利要求书

1.一种判别顺式与反式几何异构体的近红外光谱分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)设置近红外光谱仪的分辨率为4cm^-1、扫描次数为64次，在10000～4000cm^-1扫描范围内分别采集格列美脲各顺式样品和反式样品的近红外漫反射光谱；

(2)采用多元信号修正、导数和平滑的方法对步骤(1)所得光谱进行预处理；

(3)在步骤(2)所得光谱数据中选择6600～6500cm^-1和6000～5800cm^-1为建模光谱范围；

(4)采用主成分分析法对步骤(3)所选光谱范围的数据进行降维；

(5)对步骤(4)所得数据，以建模主成分数为2、采用判别分析法建立并验证顺式与反式格列美脲几何异构体的判别模型，所建模型的性能由校正集正判率和验证集正判率进行评价；

(6)取未知顺式与反式的格列美脲几何异构体样品，按照步骤(1)所述方法采集近红外漫反射光谱，按照步骤(2)～(4)所述方法进行光谱的多步骤处理，然后应用步骤(5)所建模型进行顺式与反式格列美脲几何异构体的判别。