[发明专利]集测厚仪、密度计和料位计于一体的测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201610681995.1 申请日: 2016-08-17
公开(公告)号: CN106197550B 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 李永宏;祁陆凯;贺朝会;张清民 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 何会侠
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 升降平台 测厚仪 密度计 方斗 测量装置 实验演示 刻度尺 和料 测量 课程实验教学 圆柱型套筒 放射源 技术专业 马达控制 迫切需求 生产单位 核仪表 支撑柱 探测器 内液 底座
【说明书】:
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