[发明专利]一种用于集成电路的定位检测装置

说明书

本发明公开了一种用于集成电路的定位检测装置，包括夹持底座、插接在夹持底座上的花键柱、插套在花键柱上的伸缩管、插接在伸缩管内的伸缩杆和连接在伸缩杆一端的探针；夹持底座的中部成型有一通槽，通槽的上侧壁成型有一对连接柱，通槽内设有夹持板，夹持板的上端成型有一对与连接柱配合的插接柱，连接柱的底面成型有插槽，插接柱插接在插槽内，连接柱上插套有第一压簧；伸缩管的一端成型有伸缩槽，伸缩杆插接在伸缩槽内，伸缩杆的上端成型有齿条部，伸缩槽内铰接有与齿条部啮合的调节齿轮，伸缩管的侧壁上螺接有限位螺钉，限位螺钉的一端抵靠在伸缩杆的侧壁上。本发明能释放双手，方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。

技术领域：

本发明涉及集成电路检测设备的技术领域，具体是涉及一种用于集成电路的定位检测装置。

背景技术：

运算放大器集成电路，又称为集成运算放大器，简称为集成运放，是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。现有的运算放大器集成电路的检测一般是人工使用万用表直流电压档，测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)，同时用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号)，若万用表表针有较大幅度的摆动，则说明该运算放大器完好，若万用表表针不动，则说明运算放大器已损坏。而诸如此类的手工检测，都要依靠手持与检测表相连的探针去接触集成电路检测部位的定位检测点，但如果是运算放大器集成电路的检测，还需要手动给集成电路加入干扰信号，这样单人双手完成检测则较为困难。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的用于集成电路的定位检测装置，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容：

本发明的目的旨在解决现有技术存在的问题，提供一种能释放双手，方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接的用于集成电路的定位检测装置。

本发明涉及一种用于集成电路的定位检测装置，包括夹持底座、插接在所述夹持底座上的花键柱、插套在所述花键柱上的伸缩管、插接在所述伸缩管内的伸缩杆和连接在所述伸缩杆一端的探针；

所述夹持底座的中部成型有一通槽，所述通槽的上侧壁成型有一对连接柱，通槽内设有夹持板，所述夹持板的上端成型有一对与所述连接柱配合的插接柱，连接柱的底面成型有插槽，所述插接柱插接在所述插槽内，插接柱上插套有第一压簧，所述第一压簧的上端抵靠在连接柱的底面上、下端抵靠在夹持板的顶面上；

所述伸缩管的一端成型有内花键孔，所述花键柱插套在所述内花键孔内，伸缩管的另一端成型有伸缩槽，所述伸缩杆插接在所述伸缩槽内，伸缩杆的上端成型有沿伸缩杆纵向延伸的齿条部，伸缩槽内铰接有与所述齿条部啮合的调节齿轮，伸缩管的上端成型有避让槽口，所述调节齿轮的上端伸出所述避让槽口，伸缩管的侧壁上螺接有限位螺钉，所述限位螺钉的一端抵靠在伸缩杆的侧壁上。

借由上述技术方案，本发明在工作时，首先将待检测的集成电路板夹持在夹持底座的通槽内的夹持板与通槽的下侧壁之间，具体地，在夹持集成电路板时，夹持板上移将第一压簧压缩，夹持板的插接柱在连接柱的插槽内向上移动，直至集成电路板被牢牢夹持在夹持板与通槽的下侧壁之间，依靠第一压簧的弹力，夹持底座的通槽内可以夹持不同厚度尺寸的集成电路板，增大了本发明定位检测装置的使用范围。集成电路板夹持完成之后，通过调节伸缩杆伸出伸缩管的距离，使得伸缩杆上的探针位于集成电路板上的检测定位点的上方，具体地，转动调节齿轮使得调节齿轮带动与之啮合的齿条部移动，齿条部带动伸缩杆在伸缩槽内前后移动，直至探针位于检测定位点的上方，然后调节限位螺钉，限位螺钉的一端将伸缩杆牢牢抵靠在伸缩槽的侧壁上，这样将伸缩杆的位置固定，从而将调节齿轮与齿条部之间锁紧，从而使得探针的位置固定。之后，可通过伸缩管与花键柱之间的花键连接，使得伸缩管的内花键孔在花键柱上上下移动，从而使得探针与集成电路板上的检测定位点接触，探针可以通过导线与检测的表具相电连接，对检测定位点进行检测。