[发明专利]一种光学平板检测装置

权利要求书

1.一种光学平板检测装置，其特征在于，包括：中空椭圆柱形状的反射镜、光源和线阵相机；

所述反射镜的内表面为反射面，其设置有两对狭缝，每对狭缝的中心连接面均经过所述反射镜的第一焦线；其中，第一对狭缝用于放置待测光学平板，使所述待测光学平板经过所述第一焦线；

所述光源设置于所述反射镜的第二焦线处，所述光源外设置有滤光器件，所述滤光器件与所述光源形状相配合，环绕所述光源，所述滤光器件内侧镀有非均匀透过率的薄膜，以使得所述第一焦线处的光线均匀；

所述线阵相机设置于第二对狭缝中的第一狭缝外，所述线阵相机的镜头对准所述第一焦线对所述待测光学平板进行拍摄，所述第一对狭缝的中心连接面与第二对狭缝的中心连接面垂直。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一狭缝与所述光源在所述待测光学平板的同一侧。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述线阵相机的线阵方向与所述第一焦线方向平行。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述线阵相机的光轴方向与所述第一焦线垂直。

5.根据权利要求1-4任一项所述的装置，其特征在于，还包括：一个杂光吸收元件；

所述杂光吸收元件包裹所述线阵相机，用于吸收所述第一狭缝处存在的所述光源之外的杂光；或，

所述杂光吸收元件设置于所述第二对狭缝中的第二狭缝外，用于吸收所述第二狭缝处存在的所述光源之外的杂光。

6.根据权利要求1-4任一项所述的装置，其特征在于，还包括：两个杂光吸收元件；

其中一个杂光吸收元件包裹所述线阵相机，用于吸收所述第一狭缝处存在的所述光源之外的杂光；

另一个杂光吸收元件设置于所述第二对狭缝中的第二狭缝外，用于吸收所述第二狭缝处存在的所述光源之外的杂光。

7.一种光学平板检测装置，其特征在于，包括：中空椭圆柱形状的反射镜、光源和线阵相机；

所述反射镜的内表面为反射面，其设置有至少两对狭缝，每对狭缝的中心连接面均经过所述反射镜的第一焦线；其中，第一对狭缝用于放置待测光学平板，使所述待测光学平板经过所述第一焦线；

所述光源设置于所述反射镜的第二焦线处；

所述线阵相机设置于第二对狭缝中的第一狭缝外，所述线阵相机的镜头对准所述第一焦线对所述待测光学平板进行拍摄；

所述反射镜还设置有第五狭缝；所述第五狭缝与所述光源在所述待测光学平板的同一侧；

所述第五狭缝的中心线与所述第一焦线的连接面形成第一连接面；

所述第二对狭缝的中心连接面与所述第一对狭缝的中心连接面形成为第一夹角；

所述第一连接面与所述第一对狭缝的中心连接面形成为第二夹角；

所述第一夹角与所述第二夹角角度相等。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一狭缝与所述光源在所述待测光学平板的同一侧。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述反射镜还设置有第六狭缝，所述第六狭缝与所述光源在所述待测光学平板的不同侧；

所述第五狭缝的中心线与所述第六狭缝的中心线形成的连接面经过所述第一焦线。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述线阵相机的线阵方向与所述第一焦线方向平行。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述线阵相机的光轴方向与所述第一焦线垂直。

12.根据权利要求7-11任一项所述的装置，其特征在于，还包括：一个杂光吸收元件；

所述杂光吸收元件包裹所述线阵相机，用于吸收所述第一狭缝处存在的所述光源之外的杂光；或，

所述杂光吸收元件设置于所述第二对狭缝中的第二狭缝外，用于吸收所述第二狭缝处存在的所述光源之外的杂光。