[发明专利]一种非插入式器件测量校准方法

权利要求书

1.一种非插入式器件测量校准方法，其特征在于，反射校准时，在N个测量端口和额外的校准端口k分别连接开路器、短路器和负载三个反射标准，设连接的开路器、短路器和负载的已知反射系数分别为：Γ_o、Γ_s、Γ_l，其中Γ_l＝0，校准过程中某一端口i连接反射标准后对应的反射测量值分别为：Γ_moi、Γ_msi、Γ_mli，确定端口i反射误差项分别为：

E_Di＝Γ_mli (11)

通过反射校准，确定全部的反射误差；

直通校准时，在N个测量端口和额外的校准端口k间分别进行理想的零直通校准，当在测量端口i和校准端口k间进行直通校准时，求解出如下4项系统误差：

E_Tik＝S_ikm(1-E_LikE_Sk) (16)

E_Tki＝S_kim(1-E_LKiE_Si) (17)

等式(14)～等式(17)中，S_kkm、S_kim、S_iim、S_ikm表示直通校准时未经误差修正的直接测量所得的S参数值，下标i和k代表端口号，m表示测量值；

端口的负载匹配为接收端口的固有特性，与源输出端口无关，测量端口间的所有负载匹配误差通过等式(18)确定：

E_Lij＝E_Lik|(i＝1：N，j＝1：N，i≠j) (18)

等式(18)中的E_Lik已在所有测量端口和校准端口k间进行零直通校准时确定；测量端口间的所有传输跟踪误差通过如下的等式(19)确定：

等式(19)中，E_Tik、E_Tkj已在所有测量端口和校准端口k间进行直通校准确定，E_Dk、E_Rk在进行反射校准时确定，至此，通过反射校准和直通校准两个步骤，确定了误差模型中全部需要求解的误差项。

2.如权利要求1所述的一种非插入式器件测量校准方法，其特征在于，对N+1接收结构矢量网络分析仪的非插入式器件测量进行校准。

3.如权利要求1所述的一种非插入式器件测量校准方法，其特征在于，对2N接收结构矢量网络分析仪的非插入式器件测量进行校准。