[发明专利]激光测距系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种激光测距系统。

背景技术

对于激光测距仪而言，测距环境千变万化，可以说测距仪的每一次的测量，因其距离，目标面，环境光，温度，湿度等等无数不同因素，其返回得到的外光路的光信号都是互不相同的。

所以在测距系统中，原则上需要对每一个不同外光路设置一个匹配的内光路的光信号，以实现更精确的运算得到更精准的结果，另外各种元器件本身性能，以及各器件随着环境或时间产生的性能变化，也都需要内光路的光信号做校准以消除各种差异。

现有的做法是，验证出一个合适的内光路的光信号，通过配置内光路以及光路切换装置的硬件配置，指定一个适宜内光路的光信号通配测距产品性能要求内的各种不同外光路（含各种环境因素）。但是在测距环境或距离变化较大时，一个通配的内光路的光信号会因为难以适配较大起伏的外光路的光信号而使测距不精确。

发明内容

一种激光测距系统，包括：激光头，用于产生激光；发射光学组件，用于导向激光头产生的激光射出；光信号接收装置，用于接收由测距目标反射的光线；接收光学组件，用于导向由测距目标反射的光线至光信号接收装置；光线调整装置，能将激光头产生的激光导向至光信号接收装置；由测距目标发射至光信号接收装置的光线定义为测距光信号；由光线调整装置直接反射至光信号接收装置的光线定义为参考光信号；控制器，用于控制光线调整装置的状态从而改变参考光信号；存储器，用于存储测距光信号与光线调整装置的状态的对应关系；控制器根据测距光信号以及存储器中存储的测距光信号与光线调整装置的状态的对应关系调整光线调整装置使光信号接收装置接收到与测距光信号适配的参考光信号。

前述的激光测距系统，其特征在于：

控制器至少在测距光信号的幅值变化超过一定范围时调整光线调整装置的状态。

前述的激光测距系统，其特征在于：

存储器中测距光信号按照特性参数划分若干区间，光线调整装置的状态与这些区间一一对应。

前述的激光测距系统，其特征在于：

特性参数至少包括：信号幅值、信号频率、信号波形中的一个。

前述的激光测距系统，其特征在于：光线调整装置包括：液晶光阀，能改变折射率；调整电路，能改变加载到液晶光阀的电压。

本发明的有益之处在于通过内置测距光信号与光线调整装置的状态的对应关系来使对应每个光线调整装置状态的参考光信号与即时的测距光信号相匹配从而提高测距能力和精度。

附图说明

图1是激光测距系统的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明作具体的介绍。

参照图1所示的激光测距系统100包括：激光头11、发射光学组件12、光信号接收装置13、接收光学组件14、光线调整装置15、控制器和存储器。

其中，激光头11用于产生激光；发射光学组件12用于导向激光头11产生的激光射出行程出射光线101；光信号接收装置13用于接收由测距目标反射的光线；接收光学组件14用于导向由测距目标反射的光线至光信号接收装置13；光线调整装置15能将激光头11产生的激光导向至光信号接收装置13。

将由测距目标发射至光信号接收装置13的光线定义为测距光信号102；将由光线调整装置15直接反射至光信号接收装置13的光线定义为参考光信号103。

控制器与光信号接收装置13电连接，其能接收光信号接收装置13的电信号并加以处理，光信号接收装置13能将光信号转化为电信号，以便进行测距及相应的数据处理。

控制器还能控制光线调整装置15从而改变光线调整装置15的状态，准确的说，使通过光线调整装置15的改变从而使其对同样的入射光线（激光头11产生的光线）产生不同参考光信号103。

为了使这种调整能使参考光信号103与测距光信号102对应，可以设定一定特性参数范围的测距光信号102与一定特性参数范围的参考光信号103对应，然后调整并记录能使光信号接收装置13获得相应特性参数范围的参考光信号103时光线调整装置15的状态，使测距光信号102与光线调整装置15的状态建立对应关系，并将这种对应关系存储在存储器中，一旦控制器检测到测距光信号102就调用存储器中这种对应关系控制光线调整装置15从而使光信号接收装置13获得与测距光信号102对应的参考光信号103。

另外，控制器和存储器可以集成为一个整体，比如一个具有存储功能的MCU芯片。