[发明专利]半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台有效
申请号: | 201610772926.1 | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN106441806B | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 王贵山;杨鹏;邱静;刘冠军;吕克洪;张勇;谢皓宇;沈亲沐;季明江;赵志傲;吴超;李乾;李华康;代岳 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体激光器 退化 测试 寿命 预测 实验 平台 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科学技术大学,未经中国人民解放军国防科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610772926.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。