[发明专利]电容式指纹采集系统的坏线自检测和自修复方法

权利要求书

1.一种电容式指纹采集系统的坏线自检测和自修复方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，计算采集到整个指纹图像的整体平均灰度以及每一行的行平均灰度；

步骤2，如果整个指纹图像的整体平均灰度大于阈值A，或者小于阈值B，则判定模块的整体图像效果达不到量产标准，判定为不良品，不需要进行后续的坏线检测和修复步骤，否则进行步骤3；

步骤3，如果图像的行平均灰度大于阈值C，或者小于阈值D，则该行平均灰度不计入行块平均灰度，否则该行平均灰度计入行块平均灰度；

步骤4，计算由n行组成的行块的行块平均灰度，即k_i为第i行的行平均灰度；

步骤5，如果行平均灰度与行块平均灰度差值的绝对值大于E，记录该行所在行号i，即坏行，检测完所有行后进行步骤6；

步骤6，计算每一列的列平均灰度；

步骤7，如果图像的列平均灰度大于阈值F，或者小于阈值G，则该列平均灰度不计入列块平均灰度，否则该列平均灰度计入列块平均灰度；

步骤8，计算由m列组成的列块的列块平均灰度，即k_j为第j列的列平均灰度；

步骤9，如果列平均灰度与列块平均灰度差值的绝对值大于H，记录该列所在列号j，即坏列，检测完所有列后结束；

其中，阈值A-H通过至少5000的样本量测试得到；

步骤10，读取检测到的坏线位置；

步骤11，在坏线的相邻位置找到两条非坏线，对该两条非坏线的灰度取平均值后填充到坏线处。

2.根据权利要求1所述的电容式指纹采集系统的坏线自检测和自修复方法，其特征在于：所述坏线的相邻位置指该列的左、右两列，或该行的上、下两行。