[发明专利]基于正交表的多条件参数测试用例设计方法在审

专利信息
申请号: 201610788798.X 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN107783895A 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 戴昭君 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 正交 条件 参数 测试 设计 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及智能卡应用测试领域,特别是涉及一种基于正交表的多条件参数测试用例设计方法,有多个应用条件、多个条件值的需要全面覆盖的情景测试。

背景技术

测试案例的设计需考虑全面性、覆盖度,同时也需要兼顾效率。当一个智能卡应用情景可能在多个条件下执行、每个条件又有不同的取值时,从全面性的角度考虑,需要遍历各可能的条件组合,若N个条件每个条件都以2个参数计算,就有2N组,全部测试的时间量是可观的。在测试时间有限的情况下,需要一种能兼顾覆盖率与效率的科学方法。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种基于正交表的多条件参数测试用例设计方法,能够有效的提取测试关键因素、提高测试效率。

为解决上述技术问题,本发明的基于正交表的多条件参数测试用例设计方法是采用如下技术方案实现的:

步骤一、确定测试项中有哪些变量;

步骤二、确定每个变量有哪几个水平;

步骤三、选择一个合适的正交表;

步骤四、把变量的值映射到所述正交表中;

步骤五、把每一行的各变量水平的组合作为一个测试用例;

步骤六、根据客户实际使用情况添加测试项。

本发明以科学的方法解决测试案例的选取,保证在多条件组合的情况下,能快速有效的确定最终的案例,保证测试的全面与科学性。

本发明基于正交表,研究测试项中的多因素、多水平,根据正交性从全面试验项目中挑选出部分有代表性的点进行试验,这些有代表性的点具备了“均匀分散,齐整可比”的特点。

采用本发明的方法,可以科学选择测试用例,在测试对象迭代、压缩测试时间的情况下发挥重要的作用。在各种测试条件与测试输入比较多的情况下,利用正交表选择科学合理的测试用例,避免遍历法的冗余与低效率。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:

附图是基于正交表的多条件参数测试用例设计方法一实施例流程图。

具体实施方式

所述基于正交表的多条件参数测试用例设计方法在下面的实施例中涉及的名词,其含义如下:

因素(Factor),在一项试验中,凡欲考察的变量称为因素(变量)。

水平(Level),在试验范围内,因素被考察的值称为水平(变量的取值)。

次数(Runs),测试用例的个数。

正交表,一种特制的表格,一般用Ln(mk)表示,L代表是正交表,n代表试验次数或正交表的行数,k代表最多可安排影响指标因素的个数或正交表的列数,m表示每个因素水平数,且有n=k*(m-1)+1。如:L8(27),其中,*表示乘号。

QPBOC,快速借记/贷记非接触式支付应用。

结合附图所示,所述基于正交表的多条件参数测试用例设计方法,在下面的实施例中具体实施的过程如下:

步骤一、确定测试项中有哪些因素(变量),关注相互间的关系。

步骤二、确定每个因素有哪几个水平(变量的取值),需要进行一个等价类分析。

以智能金融卡的测试情景“不同场强条件下QPBOC交易时间”为例,分析因素与水平数。QPBOC交易过程中有以下要点:

1)金融IC卡芯片考虑到实际应用环境中,芯片运算速度与消耗功耗的平衡,特别设计了场强自适应功能,即芯片能够根据读卡机场强大小自动调整内部时钟频率,从而自动将芯片配置成适应该场强的最优最稳定的功耗消耗状态。

2)非对称算法模块RSA与安全ARM核的AHB(高级高性能总线Advanced High Performance Bus)总线时钟频率可以由寄存器开关同时设置为是否支持自适应功能。

3)可以由各自的时钟选择寄存器选配15MHz以及20MHz。

4)客户程序实际使用的存储器载体有ROM与EEPROM两种不同时序特征的区域。

5)算法长度有1024与1408两种情况,得到下表1:

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