[发明专利]FPGA内部延迟测量方法在审
申请号: | 201610794789.1 | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN106405387A | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 侯伶俐;李正杰;李显军;易希;谢小东;李平 | 申请(专利权)人: | 成都华微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙)51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610041 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | fpga 内部 延迟 测量方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都华微电子科技有限公司,未经成都华微电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610794789.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:芯片的测试方法和装置
- 下一篇:一种数字芯片功能测试方法及系统