[发明专利]薄膜电容器脉冲赋能方法

说明书

技术领域

本公开一般涉及电子元件技术领域，具体涉及薄膜电容器，尤其涉及薄膜电容器脉冲赋能方法。

背景技术

在当今社会中，电容是电子设备中大量使用的电子元件之一，广泛应用于电路中的隔直通交、耦合、旁路、滤波、调谐回路、能量转换和控制等方面。电容产品也在随着科技的发展，尤其是电子信息技术的飞跃发展，出现了适用不同领域的不同类型电容产品，如：铝电解电容器、钽电解电容器、自愈式并联电容器、陶瓷电容器、金属化聚丙烯电容器、薄膜电容、云母电容等。薄膜电容器是以金属箔当电极，将其和聚乙酯，聚丙烯，聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜，从两端重叠后，卷绕成圆筒状的构造之电容器。其具有无极性，绝缘阻抗很高，频率特性优异而且介质损失很小等优点，被大量使用在模拟电路上。

薄膜电容器在制作过程中，需要对其进行赋能处理。赋能处理是对电容器工作在标称值状态下充放电的老练处理，用来检测修复电容器，以保证产品工作状态达到各项技术参数标准要求。现有的薄膜电容器的赋能处理一般采取脉冲电压赋能方法，其具体为包括两个过程。第一过程为：在薄膜电容器上施加电压值持续上升的脉冲电压进行赋能，当施加的电压达到电容器额定工作电压的1.1倍时进入第二过程。第二过程为：继续对薄膜电容器上施加电压值持续上升的脉冲电压进行赋能，直至施加的电压达到电容器额定工作电压的1.5倍，第二过程中每次脉冲电压值上升值小于第一过程中每次脉冲电压值上升值。但是薄膜电容器在制作过程中金属薄膜上会存在弱点，在采用上述赋能方法中，其利用自愈性的特点可修复上述弱点。然而，上述自愈修复金属薄膜时，其打掉的金属薄膜面积较大，使得金属薄膜损失较大，进而导致薄膜电容器的电容容量降低。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种降低金属薄膜损失的薄膜电容器脉冲赋能方法。

本发明提供一种薄膜电容器脉冲赋能方法，包括对薄膜电容器进行交流电压预赋能处理，交流电压预赋能处理包括：

S1：对薄膜电容器施加一次第一脉冲电压进行赋能，然后对薄膜电容器放电，第一脉冲电压值为50～200V；

S2：当对薄膜电容器赋能及放电的总时间值小于预设处理时间值t时，重复S1；当对薄膜电容器赋能及放电的总时间值达到预设处理时间值t时，交流电压预赋能处理结束；

S1中赋能时间为0.1～2s，S1中放电时间为10～200ms，S2中预设处理时间值t为4.5-6s。

本发明提供的薄膜电容器脉冲赋能方法，通过在现有薄膜电容器赋能方法前增加交流电压预赋能，赋能的第一脉冲电压为50～200V，且小于薄膜电容器的额定工作电压值，交流电压预赋能具体包括对薄膜电容器进行低压赋能然后放电，可降低金属薄膜的自愈点，且降低80-90％的金属薄膜的损失量，保障了薄膜电容器的电容量。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本发明实施例提供的交流电压预赋能处理流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

请参考图1，本实施例提供一种薄膜电容器脉冲赋能方法，包括对薄膜电容器交流电压进行预赋能处理，交流电压预赋能处理包括：

S1：对薄膜电容器施加一次第一脉冲电压进行赋能，然后对薄膜电容器放电，第一脉冲电压值为50～200V；

S2：当对薄膜电容器赋能及放电的总时间值小于预设处理时间值t时，重复S1；当对薄膜电容器赋能及放电的总时间值达到预设处理时间值t时，交流电压预赋能处理结束。