[发明专利]筛检试纸及其检验之系统与方法在审

专利信息
申请号: 201610801332.9 申请日: 2016-09-05
公开(公告)号: CN107796806A 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 柯正浩 申请(专利权)人: 柯正浩
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78;G01N21/31
代理公司: 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)33244 代理人: 孟湘明
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 试纸 及其 检验 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种筛检试纸,其特征在于,包含有:

一辨识区,系经由一色坐标模型来进行筛检功能编码;

一校正区,系具有一特定颜色,用以校正一外部光谱分析装置;以及

一反应区,系可对一特定检体产生化学反应,并改变其自身的颜色。

2.如权利要求1所述的筛检试纸,其特征在于,其中该外部光谱分析装置可将该辨识区以及该反应区的反射光源进行分光处理。

3.如权利要求1所述的筛检试纸,其特征在于,其中该外部光谱分析装置可将该校正区的反射光源进行分光处理,并进行自我校正误差。

4.一种筛检试纸检验系统,其特征在于,包含:

一筛检试纸,具有:

一辨识区,系经由一色坐标模型来进行筛检功能编码;

一校正区,系具有一特定颜色;以及

一反应区,系可对一特定检体产生反应,并改变其自身的颜色;

一光谱分析装置,可透过该校正区进行分光校正,并根据该辨识区与该反应区的颜色产生二分光讯号;以及

一显示设备,系根据该二分光讯号来决定一筛检结果。

5.如权利要求4所述的筛检试纸检验系统,其特征在于,其中该显示设备内储存有一参数真值表,且该筛检结果系根据该该二分光讯号与该参数真值表比对而得。

6.如权利要求4所述的筛检试纸检验系统,其特征在于,其中该光谱分析装置系为一系统芯片(SOC),且其内部组件系利用波长范围介于系0.01奈米至100奈米之间的高能量光源对一光阻层进行曝光后,移除该未被曝光的光阻层来完成。

7.一种筛检试纸检验方法,其特征在于,该方法包含下列步骤:

提供一具有一辨识区、校正区以及一反应区之筛检试纸,其中该辨识区系经由一色坐标模型来进行筛检功能编码,该校正区具有一特定颜色,该反应区可对一特定检体产生反应,并改变其自身的颜色;

将一该特定检体与该反应区接触;

利用该校正区对一光谱分析装置进行分光校正;

透过该光谱分析装置将该辨识区与该反应区反射光源颜色进行分光,并产生二分光讯号;以及

提供一显示设备,系根据该该二分光讯号来决定一筛检结果,并将该筛检结果显示于其上。

8.如权利要求7所述的筛检试纸检验方法,其特征在于,其中该特定颜色为白色。

9.如权利要求7所述的筛检试纸检验方法,其特征在于,其中更包含将一参数真值表储存于该显示设备内的步骤,且该筛检结果系根据该该二分光讯号与该参数真值表比对而得。

10.如权利要求7所述的筛检试纸检验方法,其特征在于,其中该光谱分析装置系为一系统芯片(SOC),且其内部组件系利用波长范围介于系0.01奈米至100奈米之间的高能量光源对一光阻层进行曝光后,移除该未被曝光的光阻层来完成。

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