[发明专利]一种曝光参数调整方法和装置

权利要求书

1.一种曝光参数调整方法，其特征在于，所述方法包括：

获取预曝光图像中的感兴趣区域的灰度参数，所述预曝光图像通过对被检体进行预曝光得到；

根据所述灰度参数、预曝光时的曝光参数，得到所述被检体的等效厚度；

根据所述等效厚度、所述感兴趣区域的期望灰度参数，确定正式曝光时的曝光参数，所述曝光参数包括管电压kv和曝光剂量mAs，以将所述管电压kv和曝光剂量mAs用于正式曝光中；

所述根据所述等效厚度、所述感兴趣区域的期望灰度参数，确定正式曝光时的曝光参数，包括：

确定与所述等效厚度对应的正式曝光时的管电压kv；

根据所述等效厚度、正式曝光时的管电压kv与正式曝光时的单位灰度之间的参数关系，得到正式曝光时的单位灰度；

根据所述感兴趣区域的期望灰度参数和单位灰度，得到正式曝光时的曝光剂量mAs。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预曝光图像中的感兴趣区域的灰度参数，为平均灰度；

根据所述灰度参数、预曝光时的曝光参数，得到被检体的等效厚度，包括：

根据所述平均灰度和预曝光时的曝光剂量mAs，得到单位灰度；

根据所述单位灰度、预曝光时的管电压kv与等效厚度之间的参数关系，得到所述被检体的等效厚度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与所述等效厚度对应的正式曝光时的管电压kv，包括：

根据等效厚度和管电压kv之间的参数关系，确定与所述等效厚度对应的正式曝光时的管电压kv。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对模体进行预曝光和正式曝光，建立所述参数关系；包括：

根据预建立的模体厚度模型，确定在曝光参数下对应的模体的等效厚度，所述模体厚度模型用于确定曝光射线穿过模体时在模体范围内的长度；

根据对所述模体进行预曝光和正式曝光得到的曝光图像，确定在曝光参数下对应的所述曝光图像的灰度参数；

建立所述曝光参数、等效厚度和灰度参数之间的所述参数关系。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取预曝光图像中的感兴趣区域的灰度参数，之前还包括：

对所述预曝光图像进行限束器检测，提取所述预曝光图像在限束器范围内的有效图像；

统计所述有效图像的灰度直方图；

将所述灰度直方图中满足阈值条件的波谷的灰度值作为分隔阈值，小于所述分隔阈值的灰度对应的图像部分作为前景图像部分；

在所述前景图像部分中提取所述感兴趣区域。

6.一种曝光参数调整装置，其特征在于，所述装置包括：

参数获取模块，用于获取预曝光图像中的感兴趣区域的灰度参数，所述预曝光图像通过对被检体进行预曝光得到；

厚度确定模块，用于根据所述灰度参数、预曝光时的曝光参数，得到所述被检体的等效厚度；

调整处理模块，用于根据所述等效厚度、所述感兴趣区域的期望灰度参数，确定正式曝光时的曝光参数，所述曝光参数包括管电压kv和曝光剂量mAs，以将所述管电压kv和曝光剂量mAs用于正式曝光中；

所述调整处理模块，具体用于确定与所述等效厚度对应的正式曝光时的管电压kv；根据所述等效厚度、正式曝光时的管电压kv与正式曝光时的单位灰度之间的参数关系，得到正式曝光时的单位灰度；根据所述感兴趣区域的期望灰度参数和单位灰度，得到正式曝光时的曝光剂量mAs。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述预曝光图像中的感兴趣区域的灰度参数，为平均灰度；

所述厚度确定模块，具体用于根据所述平均灰度和预曝光时的曝光剂量mAs，得到单位灰度；根据所述单位灰度、预曝光时的管电压kv与等效厚度之间的参数关系，得到所述被检体的等效厚度。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述调整处理模块，在确定管电压kv时，具体用于根据等效厚度和管电压kv之间的参数关系，确定与所述等效厚度对应的正式曝光时的管电压kv。