[发明专利]一种分析物量测模块

权利要求书

1.一种试片读取装置，用以读取一试片，包含：

一模块上盖体，设有至少一试片承靠端以及多个操作孔，该多个操作孔可置入多个第一操作行程组件，该多个第一操作行程组件包括用于接触该试片上多个编码孔的多个启动元件和配置于该多个启动元件下方的多个阻隔元件；

一电路板，配置多个穿孔搭配该多个操作孔，供各该多个第一操作行程组件于各该多个操作孔及各该多个穿孔之间移动，该电路板底部的该多个穿孔周边设有多个导电区；以及

一模块下盖体，设置有多个第二操作行程组件，该多个第二操作行程组件包含多个导电元件设置于该多个阻隔元件下方，以及多个弹力元件用以抵顶该多个导电元件，各该多个第二操作行程组件与各该导电区之接触与分离状态决定一读取讯号。

2.如权利要求1所述的试片读取装置，其中该模块上盖体更包含一试片上承靠端与一试片下承靠端，以形成与该模块上盖体一体成型的一试片插槽，以容纳该试片，该试片插槽的高度为该试片的厚度加上一个介于0.05～0.5mm的空隙。

3.如权利要求1所述的试片读取装置，其中该多个阻隔元件包含多个污染物收集部。

4.如权利要求1所述的试片读取装置，其中该多个第二操作行程组件更包含多个接地元件，设置于该多个弹力元件下方，各该多个导电元件因应各该多个弹力元件之推挤而接触各该多个接地元件，当各该多个导电元件与各该多个导电区接触时，形成一导电状态，以及当各该多个导电元件与各该多个导电区分离时，形成一未导电状态。

5.如权利要求4所述的试片读取装置，其中该模块上盖体更包含一试片上承靠端与一试片下承靠端，以形成与该模块上盖体一体成型的一试片插槽，当该试片插入该试片插槽时，根据各该多个编码孔中是否有一凸起部，决定各该多个导电区与各该多个接地元件是否电接触，以经由该导电状态或该未导电状态判断该试片上相对于各该多个操作孔位置的该读取讯号。

6.如权利要求1所述的试片读取装置，其中该电路板更包含多个导通元件，设置于该电路板底部的该多个穿孔周边，当各该多个导电元件与各该多个导电区及各该多个导通元件接触时，形成一导电状态，以及当各该多个导电元件与各该多个导电区及各该多个导通元件分离时，形成一未导电状态，并经由该导电状态或该未导电状态判断该试片上相对于各该多个操作孔位置的该读取讯号。

7.一种试片读取装置，用以容纳一试片，包含：

一模块上盖体，设有至少一试片承靠端，包含多个操作孔，可置入多个导电元件以及多个阻隔元件；

一电路板，配置多个穿孔搭配该多个操作孔，供该多个导电元件于该多个穿孔与该多个操作孔之间移动，且该电路板底部的各该多个穿孔周边设有多个导电区；以及

一模块下盖体，设置有多个弹力元件和多个接地元件；

其中各该多个导电元件具有一第一端、一第二端和一侧边槽，该第一端用以接触该试片上的多个编码孔，该一第二端用以抵顶各该多个弹力元件，该侧边槽具有靠近该第一端的一第一槽壁以及相对于该第一槽壁的一第二槽壁，该第二槽壁被配置以因应该弹力元件之推挤而接触该接地元件，且各该多个导电元件与各该多个导电区之接触与分离状态决定一读取讯号。

8.如权利要求7所述的试片读取装置，其中各该多个导电元件为一柱状导电元件。

9.如权利要求7所述的试片读取装置，其中各该多个阻隔元件包含被配置于邻近该第一端的一污染物收集部，以收集进入该试片读取装置之一污染物，且其中该侧边槽与该污染物收集部相匹配。

10.如权利要求7所述的试片读取装置，其中各该多个编码孔包含或不包含一凸起部；当各该多个编码孔中包含该凸起部时，该凸起部抵顶该第一端，使各该多个导电元件与该多个导电区分离而形成一未导电状态；当各该多个编码孔中不包含凸起部时，该第一端未被抵顶，使各该多个导电元件与该多个导电区接触而形成一导电状态。