[发明专利]一种分析物量测模块

权利要求书

1.一种试片读取装置，包含:

一模块本体，包含一试片承靠面、一接地元件以及至少一操作孔，该操作孔内设置有一第一操作行程组件与一第二操作行程组件；以及

一电路板；

其中：该试片承靠面与该本体一体成型；

该第二操作行程组件与该接地元件之接触与分离状态决定一读取讯号；

该第一操作行程组件包含一启动元件，用于接触该试片上至少一编码孔；

该第一操作行程组件还包含一阻隔元件，配置于该启动元件下方；

该第二操作行程组件包含一弹力元件；

该电路板包含一接地端，设置于该弹力元件下方；以及

该第二操作行程组件还包含一导电元件设置于该阻隔元件下方，且该弹力元件是配置以抵顶该导电元件。

2.如权利要求1所述的试片读取装置，该模块本体更包含一试片上承靠端与一试片下承靠端，以形成与该模块本体一体成型的一试片插槽以容纳一试片。

3.如权利要求2所述的试片读取装置，该试片插槽的高度为该试片的厚度加上一个介于0.05～0.5mm的空隙。

4.如权利要求2所述的试片读取装置，该试片具有至少一凸起部，该凸起部高度介于0.4mm～0.8mm。

5.如权利要求1所述的试片读取装置，其中该导电元件因应该弹力元件之推挤而接触该接地元件，当该导电元件与该接地元件接触时，形成一导电状态，以及当该导电元件与该接地元件分离时，形成一未导电状态，经由该导电状态判断该编码孔上相对于该操作孔位置的该读取讯号。

6.如权利要求1所述的试片读取装置，其中该阻隔元件包含一污染物收集部，其中该污染物收集部由一第一边壁与一第二边壁所构成。

7.如权利要求6所述的试片读取装置，其中该阻隔元件更包含一凸块，该凸块与该启动元件匹配。

8.一种试片读取装置，包含:

一模块本体，包含一试片承靠面、一接地元件以及至少一操作孔，该操作孔内设置有一导电元件，其中该导电元件包含一第一端，用以接触试片，以及一第二端，用以抵顶一弹力元件；以及

一电路板；

其中该试片承靠面与该本体一体成型，该导电元件与该接地元件之接触与分离状态决定一读取讯号；且

其中该导电元件因应该弹力元件之推挤而接触该接地元件，当该导电元件与该接地元件接触时，形成一导电状态，以及当该导电元件与该接地元件分离时，形成一未导电状态，经由该导电状态判断该试片的一编码孔上相对于该操作孔位置的该读取讯号。

9.如权利要求8所述的试片读取装置，该导电元件更具有一侧边槽，该侧边槽具有较靠近该第一端的一第一槽壁以及相对于该第一槽壁的一第二槽壁，且该第二槽壁配置以因应该弹力元件之该推挤而接触该接地元件。

10.如权利要求9所述的试片读取装置，更包含一阻隔元件，配置于该侧边槽之一周边，且和该第一槽壁相匹配。

11.如权利要求8所述的试片读取装置，其中该导电元件的该第二端更配置以电连接一信号源，该信号源提供一电子信号，并具有一防静电电路。