[发明专利]用于检查液晶的注射情况的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于检查液晶的注射情况的方法和装置，更具体地，涉及用于检查以下液晶的注射情况的方法和装置，其中，具有注射在上基板与下基板之间的液晶的液晶盒被局部挤压并且由此挤压度改变，使得可以基于该挤压度来检查液晶的注射情况。

背景技术

通常，液晶显示(LCD)装置包括光源和液晶盒，并且利用液晶的双折射来控制光的透射，从而显示各种图像。在制造液晶盒的过程中，提出了一种将液晶材料散布在基板上并且使用另一基板来覆盖该基板的技术。这样的技术显著减少了在用于形成液晶盒的过程中所需步骤的数量，并且由此提高了制造效率。

具体地，滴下式注入(ODF)法包括以下步骤。首先，向一对基板中的一个基板的整个边缘施加密封剂以形成密封构件，并且将液晶材料散布到该对基板中的一个基板上。在散布步骤之后，将一个基板布置在另一基板上。在这种状态下，使密封构件硬化。

与常规真空注射法相比，该ODF法减少了使用液晶材料的量以及注射液晶材料所用的时间，从而显著减少了液晶盒的制造成本并且提高了产率。

此时，更重要的是检查液晶的注射情况，以防止当玻璃基板变得更薄和更大并且液晶盒具有更高分辨率时液晶盒的驱动缺陷。

现有技术

专利文献

题为“SYSTEM FOR TESTING A LIQUID CRYSTAL AND END SEAL OF LCD CELL”并于2000年1月15日公布的韩国专利第10-0279260号。

发明内容

因此，构思本发明以解决上述问题，并且本发明的一个方面是提供了一种用于检查液晶的注射情况的方法和装置，其中，具有注射在上基板与下基板之间的液晶的液晶盒被局部挤压，并且由此挤压度改变，使得可以基于该挤压度来检查液晶的注射情况。

根据本发明的实施方式，提供了一种检查注射在液晶盒的上基板与下基板之间的液晶的注射情况的方法，该方法包括：挤压步骤，以预设压力在挤压位置处挤压液晶盒；测量步骤，测量液晶盒在挤压步骤中挤压的挤压位置处的挤压度；以及检查步骤，将液晶盒的挤压度与预设参考变形度进行比较。

检查步骤可以包括：如果液晶盒的挤压度在预设参考变形度的误差范围内，则确定液晶在正常注射情况下，而如果液晶盒的挤压度在预设参考变形度的误差范围之外，则确定液晶在不良注射情况下。

检查液晶的注射情况的方法还可以包括改变液晶盒上的挤压位置的位置调整步骤。

测量步骤包括：第一测量步骤，当在挤压步骤中挤压该挤压位置时测量液晶盒在挤压位置处的凹陷；第二测量步骤，先于挤压步骤，在挤压该挤压位置之前，测量液晶盒在挤压位置处的表面位置；以及位移计算步骤，基于在第一测量步骤中测量的值与在第二测量步骤中测量的值之间的差来计算液晶盒的挤压度。

根据本发明的实施方式，提供了一种用于检查注射在液晶盒的上基板与下基板之间的液晶的注射情况的装置，该装置包括：挤压单元，用于以预设压力在挤压位置处挤压液晶盒；测量单元，用于测量液晶盒在挤压步骤中挤压的挤压位置处的挤压度；以及检查单元，用于将液晶盒的挤压度与预设参考变形度进行比较。

如果液晶盒的挤压度在预设参考变形度的误差范围内，则检查单元确定液晶在正常注射情况下，而如果液晶盒的挤压度在预设参考变形度的误差范围之外，则检查单元确定液晶在不良注射情况下。

用于检查液晶的注射情况的装置还可以包括用于改变液晶盒上的挤压位置的测量控制器。

测量单元可以包括：测量器，其在液晶盒上方并与液晶盒间隔开，并且测量液晶盒在挤压位置处的挤压度；位置调整器，其在液晶盒的上方并 根据挤压位置来移动测量器和挤压单元；以及位移计算器，其基于当挤压该挤压位置时通过测量液晶盒在挤压位置处的凹陷而从测量器获得的值与在挤压该挤压位置之前通过测量液晶盒在挤压位置处的表面位置而从测量器获得的值之间的差来计算液晶盒的挤压度。

测量单元可以包括：测量器，其在液晶盒上方并与液晶盒间隔开，并且测量液晶盒在挤压位置处的挤压度；位置调整器，其在液晶盒的上方并根据挤压位置移动测量器；以及位移计算器，其基于当挤压该挤压位置时通过测量液晶盒在挤压位置处的凹陷而从测量器获得的值与在挤压该挤压位置之前通过测量液晶盒在挤压位置处的表面位置而从测量器获得的值之间的差来计算液晶盒的挤压度，并且多个挤压单元在液晶盒上方对应于的多个挤压位置而彼此间隔开。