[发明专利]一种氢分离合金临界氢脆的表征方法

权利要求书

1.一种氢分离合金临界氢脆的表征方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、在真空状态下对氢分离合金进行加热，在恒定温度下保持2至6个小时；

步骤2、在氢分离合金两侧通入氢气，使所述的氢分离合金两侧处于氢气氛围；保持氢分离合金两侧具有一定的压差，将所述氢分离合金在恒定的降温速率下逐渐冷却，直至发生氢脆或降到20℃～25℃；记录该过程的渗氢流量、时间和温度；

当将所述氢分离合金在恒定的降温速率下逐渐冷却之后，加热炉已经降到20℃～25℃或者氢分离合金发生氢脆后降到20℃～25℃时，先对氢分离合金一侧进行抽真空，当氢分离合金一侧的压强和另一侧的压强一致时，对两侧同时抽真空，当抽真空完成时，打开加热炉取出氢分离合金；

步骤3、根据降温过程的温度、时间、渗氢流量，并结合压力得到氢分离合金在特定压力下渗氢流量与温度的关系曲线，通过渗氢流量与温度的关系曲线对氢分离合金临界氢脆进行表征。

2.根据权利要求1所述的一种氢分离合金临界氢脆的表征方法，其特征在于，所述步骤2具体包括以下步骤：

在实验装置真空的条件下，首先在氢分离合金的一侧通入压强为P1兆帕的氢气，0.1＜P1≤0.2；在氢分离合金的另一侧通入压强为P1兆帕的氢气；保持5min至30min；然后将氢分离合金的一侧通入压强由P1兆帕调整为P2兆帕，P1＜P2≤0.8；将氢分离合金的另一侧压强为P1兆帕的氢气排放并接通大气；将所述氢分离合金在恒定的降温速率下逐渐冷却，直至发生氢脆或降到20℃～25℃；记录该过程的渗氢流量、时间和温度。

3.根据权利要求2所述的一种氢分离合金临界氢脆的表征方法，其特征在于，步骤1所述的恒定温度为200摄氏度至900摄氏度。

4.根据权利要求1至3之一所述的一种氢分离合金临界氢脆的表征方法，其特征在于，本方法在步骤1之前还包括以下步骤：

步骤a、在加热炉内安装氢分离合金样品；

步骤b、对加热炉进行抽真空；

步骤c、对实验装置进行整体检测漏气操作；如果整体实验装置气密性不合格，调整实验装置后返回步骤a重新开始，直至整体实验装置气密性合格；

步骤d、在整体实验装置气密性合格后，检验氢分离合金是否存在裂纹或者存在安装偏移；如果氢分离合金存在裂纹或者存在安装偏移，重新安装或者更换氢分离合金返回步骤a重新开始，直至氢分离合金及安装合格；

步骤e、对实验装置进行洗气。

5.根据权利要求4所述的一种氢分离合金临界氢脆的表征方法，其特征在于，步骤e所述对实验装置进行洗气包括以下步骤：

先用氮气对实验装置进行洗气；然后用氢气对实验装置进行洗气。

6.根据权利要求5所述的一种氢分离合金临界氢脆的表征方法，其特征在于，步骤c所述对实验装置进行整体检测漏气操作是利用在实验装置中通入氮气完成检测的。