[发明专利]基于芯片版图的故障注入分析方法及系统

权利要求书

1.一种基于芯片版图的故障注入分析方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测芯片的芯片版图；

在所述待测芯片上的选定区域进行故障注入；

对所述待测芯片在故障注入状态下的运行数据进行采集；

根据采集的运行数据分析所述待测芯片的状态，进而判断所述选定区域对故障注入的敏感度；

根据敏感度对所述芯片版图的对应区域进行区分化标记；

其中，所述根据敏感度对所述芯片版图的对应区域进行区分化标记的步骤包括：根据所述敏感度在所述芯片版图上对所述待测芯片的敏感区域进行标记，

所述根据所述敏感度在所述芯片版图上对所述待测芯片的敏感区域进行标记的步骤包括：在所述芯片版图上对所述待测芯片的敏感区域的敏感参数进行标记，所述敏感参数包括对所述选定区域实现有效攻击的故障注入参数；根据所述敏感度在所述芯片版图上对所述待测芯片的不同敏感区域进行区分化标记，所述不同敏感区域包括出错区域、复位区域以及报警区域中的至少两种的组合。

2.根据权利要求1所述的故障注入分析方法，其特征在于，所述在所述待测芯片上的选定区域进行故障注入的步骤之前，进一步包括：

对所述待测芯片在无故障注入状态下的运行数据进行采集，以获得所述待测芯片的运行曲线；

根据所述运行曲线确定所述待测芯片的运行关键时间点；

所述对所述待测芯片在故障注入状态下的运行数据进行采集的步骤包括：

在所述运行关键时间点对所述待测芯片在故障注入状态下的运行数据进行采集。

3.根据权利要求1所述的故障注入分析方法，其特征在于，所述根据敏感度对所述芯片版图的对应区域进行区分化标记的步骤进一步包括：

根据所述敏感度在所述芯片版图上对所述待测芯片的非敏感区域进行标记，其中所述非敏感区域和所述敏感区域的标记不同。

4.根据权利要求1所述的故障注入分析方法，其特征在于，所述芯片版图为所述待测芯片的背面版图，所述在所述待测芯片上的选定区域进行故障注入的步骤包括：在所述待测芯片的背面上的选定区域进行故障注入。

5.一种基于芯片版图的故障注入分析系统，其特征在于，所述系统包括：

工作站，用于获取并显示待测芯片的芯片版图；

故障注入平台，用于在所述待测芯片上的选定区域进行故障注入；

数据采集装置，用于对所述待测芯片在故障注入状态下的运行数据进行采集；

其中，所述工作站根据采集的运行数据分析所述待测芯片的状态，进而判断所述选定区域对故障注入的敏感度，所述工作站进一步根据敏感度对所述芯片版图的对应区域进行区分化标记，

所述根据敏感度对所述芯片版图的对应区域进行区分化标记包括：在所述芯片版图对所述待测芯片的敏感区域的敏感参数进行标记，所述敏感参数包括对所述选定区域实现有效攻击的故障注入参数；根据所述敏感度在所述芯片版图上对所述待测芯片的不同敏感区域进行区分化标记，所述不同敏感区域包括出错区域、复位区域以及报警区域中的至少两种的组合。

6.根据权利要求5所述的故障注入分析系统，其特征在于，所述工作站进一步根据所述敏感度在所述芯片版图上对所述待测芯片的非敏感区域进行标记，其中所述非敏感区域和所述敏感区域的标记不同。

7.根据权利要求5所述的故障注入分析系统，其特征在于，所述芯片版图为所述待测芯片的背面版图，所述故障注入平台在所述待测芯片的背面上的选定区域进行故障注入。