[发明专利]一种相位梯度超表面单元、超单元以及反射阵列

权利要求书

1.一种相位梯度超表面单元，其特征在于，包括介质板，所述介质板的介电常数为2.65，且包括第一正方形表面和与所述第一正方形表面相对的第二正方形表面，所述第一正方形表面上设置有S形金属贴片，所述第二正方形表面上设置有金属接地板；

其中，所述S形金属贴片包括两个大小相同且相切的圆形金属贴片；所述圆形金属贴片具有缺口，所述缺口的一端为切点；所述圆形金属贴片的缺口的另一端到所述切点的切线的距离，与另一所述圆形金属贴片的缺口的另一端到所述切点的切线的距离相同。

2.根据权利要求1所述的超表面单元，其特征在于，所述S形金属贴片的几何中心与所述第一正方形表面的几何中心重合。

3.根据权利要求1所述的超表面单元，其特征在于，所述S形金属贴片的厚度和所述金属接地板的厚度相同。

4.一种超单元，其特征在于，包括2n个权利要求1-3任一项所述的超表面单元，其中n≥1，且为整数，所述2n个超表面单元以第一正方形表面为正面顺序排列，所述2n个超表面单元中的S形金属贴片的缺口距离或缺口方向不同，以使得对入射波调制的波形相位变化量为0度到360度。

5.根据权利要求4所述的超单元，其特征在于，所述2n个超表面单元的前n个超表面单元中的S形金属贴片的缺口距离不同，并且第i+n个S形金属贴片的缺口距离与第i个S形金属贴片的缺口距离相同，其中1≤i≤n，且为整数。

6.根据权利要求5所述的超单元，其特征在于，所述第i+n个S形金属贴片的缺口方向与所述第i个S形金属贴片绕所述第i个S形金属贴片的几何中心旋转预设角度后的缺口方向相同。

7.根据权利要求4-6任一项所述的超单元，其特征在于，所述2n个S形金属贴片中的圆形金属贴片的内圆半径相等，外圆半径相等。

8.一种反射阵列，其特征在于，包括多个权利要求4-7任一项所述的超单元，所述多个超单元以第一正方形表面为正面顺序排列。

9.根据权利要求8所述的反射阵列，其特征在于，所述多个超单元以所述第一正方形表面为正面顺序排列成多行多列。