[发明专利]直放站光纤时延测量方法和装置有效
申请号: | 201610833558.7 | 申请日: | 2016-09-20 |
公开(公告)号: | CN107846249B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 李军祥 | 申请(专利权)人: | 中国电信股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04B1/7075;H04B1/7113;H04B1/7115;H04J11/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 王云飞 |
地址: | 100033 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 伪噪声偏移量 直放站 光纤时延 测量 方法和装置 多径信号 最强多径 差值获取 短码 扇区 | ||
1.一种直放站光纤时延测量方法,其特征在于,包括:
测量第一伪噪声偏移量,其中第一伪噪声偏移量为施主扇区最强多径的伪噪声偏移量;
测量第二伪噪声偏移量,其中第二伪噪声偏移量为直放站最强多径的伪噪声偏移量;
根据第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值获取直放站光纤时延。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值获取直放站光纤时延包括:
将第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值绝对值的三十二分之一作为直放站光纤时延,其中,所述直放站光纤时延的单位为km。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值获取直放站光纤时延包括:
将第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值绝对值的八分之一作为直放站光纤时延,其中,所述直放站光纤时延的单位为chip。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述测量第一伪噪声偏移量包括:
在施主扇区下开始启呼测试,记录第一伪噪声偏移量。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述测量第二伪噪声偏移量包括:
保持长呼测试,在直放站下,记录第二伪噪声偏移量。
6.一种直放站光纤时延测量装置,其特征在于,包括第一偏移量测量模块、第二偏移量测量模块和时延获取模块,其中:
第一偏移量测量模块,用于测量第一伪噪声偏移量,其中第一伪噪声偏移量为施主扇区最强多径的伪噪声偏移量;
第二偏移量测量模块,用于测量第二伪噪声偏移量,其中第二伪噪声偏移量为直放站最强多径的伪噪声偏移量;
时延获取模块,用于根据第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值获取直放站光纤时延。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,
时延获取模块用于将第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值绝对值的三十二分之一作为直放站光纤时延,其中,所述直放站光纤时延的单位为km。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,
时延获取模块用于将第一伪噪声偏移量与第二伪噪声偏移量的差值绝对值的八分之一作为直放站光纤时延,其中,所述直放站光纤时延的单位为chip。
9.根据权利要求6-8中任一项所述的装置,其特征在于,
第一偏移量测量模块用于在施主扇区下开始启呼测试,记录第一伪噪声偏移量。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,
第二偏移量测量模块用于保持长呼测试,在直放站下,记录第二伪噪声偏移量。
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