[发明专利]Cu芯球的制造方法有效
申请号: | 201610835984.4 | 申请日: | 2015-01-28 |
公开(公告)号: | CN107097014B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 川崎浩由;六本木贵弘;相马大辅;佐藤勇 | 申请(专利权)人: | 千住金属工业株式会社 |
主分类号: | B23K35/26 | 分类号: | B23K35/26;B23K35/30;B22F9/08;B22F1/02;B23K35/02;C22C9/00;C22C13/00;C25D3/60;C25D5/10;C25D5/12;C25D7/00;H01B1/02;H01L23/00;H05 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | cu 制造 方法 | ||
1.一种Cu芯球的制造方法,其特征在于,其具备如下的阶段:
提供作为核的Cu球的阶段,该Cu球是纯度为99.9%以上且99.995%以下、U为5ppb以下的含量且Th为5ppb以下的含量、Pb和/或Bi的总含量为1ppm以上、球形度为0.95以上、α射线量为0.0200cph/cm2以下的Cu球;
提供覆盖所述Cu球的表面的焊料镀覆膜的阶段,所述焊料镀覆膜为Sn焊料镀覆膜或由以Sn作为主要成分的无铅焊料合金形成的焊料镀覆膜,
对Cu芯球进行平滑化处理的阶段,该阶段中,通过在将Cu芯球浸渍于镀液的状态下照射超声波来对Cu芯球进行平滑化处理,使所述Cu芯球的算术平均表面粗糙度为0.3μm以下。
2.根据权利要求1所述的Cu芯球的制造方法,其特征在于,在所述对Cu芯球进行平滑化处理的阶段中,照射50~60分钟超声波。
3.根据权利要求1所述的Cu芯球的制造方法,其特征在于,所述焊料镀覆膜中,U为5ppb以下的含量且Th为5ppb以下的含量。
4.根据权利要求1所述的Cu芯球的制造方法,其特征在于,在所述对Cu芯球进行平滑化处理的阶段中,使Cu芯球的算术平均表面粗糙度为0.2μm以上且0.22μm以下。
5.根据权利要求1所述的Cu芯球的制造方法,其特征在于,在提供覆盖所述Cu球的表面的焊料镀覆膜的阶段之前,还包括:预先利用由选自Ni和Co中的1种元素以上形成的镀层覆盖所述Cu球的阶段。
6.根据权利要求1~5中的任一项所述的Cu芯球的制造方法,其特征在于,所述Cu芯球的α射线量为0.0200cph/cm2以下。
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