[发明专利]基于图像处理的货架快速清点方法有效
申请号: | 201610850907.6 | 申请日: | 2016-09-23 |
公开(公告)号: | CN106650580B | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 李千目;陈晗婧;唐振民 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62;G06M11/00 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱显国 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 图像 处理 货架 快速 清点 方法 | ||
1.一种基于图像处理的货架快速清点方法,其特征在于步骤如下:
第一步,采集一张当前超市货架图片作为目标图像,以及一张商品官方图片作为模板;对目标图像和模板进行SIFT特征提取操作,获得模板和目标图像的SIFT特征,用最近邻距离与次近邻距离相除取最小进行匹配;
第二步,根据目标图像中匹配点的离散程度,使用K-means聚类方法将匹配点聚类;
第三步,通过聚类特征点得到模板与匹配图像中物体的对应位置,按比例对模板进行缩放,随后将模板在目标图像上的对应点进行模板匹配,若满足欧氏距离小于阈值则认为匹配成功,对物体进行计数;
使用K-means聚类方法将匹配点聚类的具体步骤如下:
2.1对模版和目标图像进行SIFT特征提取,并匹配得到的特征点;
2.2对所得SIFT特征点进行K-means聚类,满足目标函数达到既定阈值或者达到一定的迭代次数即终止,阈值为1,迭代次数上限为30,其中node为特征点,μ为聚类中心;只使用最少点数的聚类作为基准,计算并缩放模版:
其中||a||为货架上同一物体上的两个特征点之间的距离,||b||为模版上对应特征点之间的距离,N1为同一聚类中的点对个数;
2.3使用缩放的模版对含有SIFT特征点的货架物体图片进行匹配得到距离,若满足阈值条件则认为匹配成功,计数加一。
2.根据权利要求1所述的基于图像处理的货架快速清点方法,其特征在于:2.3中所述阈值条件为归一化欧式距离<=0.6。
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